[发明专利]增幅型I-line光阻组合物有效
申请号: | 201710614701.8 | 申请日: | 2017-07-25 |
公开(公告)号: | CN109298600B | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 李兴杰;吕英豪;黄新义 | 申请(专利权)人: | 台湾永光化学工业股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/039 | 分类号: | G03F7/039 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 中国台湾台北*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 增幅 line 组合 | ||
一种增幅型I‑line光阻组合物,包括:一聚羟基苯乙烯衍生物树脂;一光酸引发剂;以及一小分子促进剂,为如下式(I‑1)至式(I‑3)所示的任一化合物:其中,X1至X7、R1至R12、n1、n2及m如说明书中所定义。
技术领域
本公开涉及一种增幅型I-line光阻组合物,尤其是涉及一种具有优异的解析度及高感度特性的增幅型I-line光阻组合物。
背景技术
在现今半导体黄光工艺中,例如薄膜晶体管基板的工艺中,所使用的曝光机曝光面积大,相对的透镜面积也较大,造成光源强度低与透镜数值孔径(numerical aperture,N.A.值)低。因此,为了配合此机器缺点,常使用高感光型DNQ光。
以目前而言,正型DNQ光阻一直是薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)黄光工艺中的重要关键材料,但此类光阻的工艺在1.5μm的膜厚下一直受限于2μm的解析度,且所得的图形无法具有垂直边壁。若转换使用增幅型光阻,不但可以进一步增加感度,减低工艺时间,也可得到边壁垂直的产品。然而,增幅型光阻需另加一道曝后烤(PEB)工艺来稳定线宽与减少光阻显影后残留,但因曝后烤工艺繁杂,几乎无法在现有的TFT-LCD的黄光工艺后多增加一道曝后烤工艺来替换原本DNQ光阻。
因此,若能发展出一种可无须通过曝后烤工艺的增幅型光阻,则可改善原本DNQ光阻解析度受限的问题,更可避免现有增幅型光组需要曝后烤工艺的限制,而更加适用于现有的半导体工艺。
发明内容
本公开的主要目的在于提供一种增幅型I-line光阻组合物,其具有优异的解析度及高感度特性。
本公开的增幅型I-line光阻组合物,包括:一聚羟基苯乙烯衍生物树脂;一光酸引发剂;以及一小分子促进剂,为如下式(I-1)至式(I-3)所示的任一化合物:
其中,X1、X2、X3、X4、X5、X6及X7各自独立为且Ra为经取代或未经取代的C1-20烷基、或经取代或未经取代的C3-30环烷基,或Ra与O、和O相邻的C原子及甲基一同形成一五元或六元的杂环基;
每一R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7、R8、R9、R10、R11及R12各自独立为氢、经取代或未经取代的C1-20烷基、经取代或未经取代的C3-30环烷基、经取代或未经取代的C6-14芳基、卤素或其中Rf为经取代或未经取代的C1-20烷基、或经取代或未经取代的C3-30环烷基,或Rf与O、和O相邻的C原子及甲基一同形成一五元或六元的杂环基;
A为一单键、经取代或未经取代的C1-20亚烷基、经取代或未经取代的C3-30亚环烷基、经取代或未经取代的亚芴基或其中Rb及Rc各自独立为经取代或未经取代的C1-20烷基,Rd及Re各自独立为经且Rg为经取代或未经取代的C1-20烷基、或经取代或未经取代的C3-30环烷基,或Rg与O、和O相邻的C原子及甲基一同形成一五元或六元的杂环基,而p1及p2各自独立为0至4的整数;
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