[发明专利]测量设备、测量方法及程序有效

专利信息
申请号: 201710616268.1 申请日: 2017-07-25
公开(公告)号: CN107656485B 公开(公告)日: 2020-09-01
发明(设计)人: 早野绫一郎;野原康弘;井伊谷育典;关口翔 申请(专利权)人: 双叶电子工业株式会社
主分类号: G05B19/048 分类号: G05B19/048;G01D21/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 延美花;臧建明
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测量 设备 测量方法 程序
【权利要求书】:

1.一种测量设备,包括:

输入部,其能够输入配置于射出成型装置的传感器的检测信号;

评价值计算部,其利用在指定期间中输入到所述输入部的检测信号值来计算评价值,其中,所述指定期间是合模期间或速度控制期间,被设为所述射出成型装置的一个成型周期的期间内的一部分期间;以及

判定处理部,其利用所述评价值计算部计算出的评价值求出射出成型状况的判定结果,

所述指定期间根据检测信号值或所述检测信号值的变化结束。

2.根据权利要求1所述的测量设备,还包括:

数据记录处理部,其在所述射出成型装置的一个成型周期的期间中,进行将输入到所述输入部的各时间点的检测信号值存储为记录数据的处理,

所述数据记录处理部进行将所述评价值计算部计算出的评价值也存储为记录数据的处理。

3.根据权利要求1所述的测量设备,其中,

基于从外部供给的信号判断一个成型周期的期间中的所述指定期间的开始定时或结束定时。

4.根据权利要求1所述的测量设备,其中,

基于从一个成型周期开始的时间管理或监视检测信息值来判断一个成型周期的期间中的所述指定期间的开始定时或结束定时。

5.一种测量设备的测量方法,包括取得步骤、运算步骤及判定步骤,

所述取得步骤取得配置于射出成型装置的传感器的检测信号,

所述运算步骤利用指定期间中的检测信号值来计算评价值,其中,所述指定期间是根据检测信号值或所述检测信号值的变化结束的合模期间或速度控制期间,被设为所述射出成型装置的一个成型周期的期间内的一部分期间,

所述判定步骤利用所述运算步骤计算出的评价值求出射出成型状况的判定结果。

6.根据权利要求5所述的测量设备的测量方法,其中,

基于从外部供给的信号来判断一个成型周期的期间中的所述指定期间的开始定时或结束定时。

7.根据权利要求5所述的测量设备的测量方法,其中,

基于从一个成型周期开始的时间管理或监视检测信息值来判断一个成型周期的期间中的所述指定期间的开始定时或结束定时。

8.一种计算机存储媒体,其中存储有使运算处理装置实行取得步骤、运算步骤及判定步骤的程序,

所述取得步骤取得配置于射出成型装置的传感器的检测信号,

所述运算步骤利用指定期间中的检测信号值来计算评价值,其中,所述指定期间是根据检测信号值或所述检测信号值的变化结束的合模期间或速度控制期间,被设为是所述射出成型装置的一个成型周期的期间内的一部分期间,

所述判定步骤利用所述运算步骤中计算出的评价值求出射出成型状况的判定结果。

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