[发明专利]测量设备、测量方法及程序有效

专利信息
申请号: 201710616268.1 申请日: 2017-07-25
公开(公告)号: CN107656485B 公开(公告)日: 2020-09-01
发明(设计)人: 早野绫一郎;野原康弘;井伊谷育典;关口翔 申请(专利权)人: 双叶电子工业株式会社
主分类号: G05B19/048 分类号: G05B19/048;G01D21/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 延美花;臧建明
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测量 设备 测量方法 程序
【说明书】:

本发明提供一种测量设备、测量方法及程序。本发明对于由射出成型装置的传感器取得的检测信息,能够作出比一个成型周期的评价更详细的评价。在一个成型周期中,取得配备于射出成型装置的传感器的检测信号。然后利用在指定期间中的检测信号值来进行评价值的计算,指定期间是指一个成型周期的期间内的一部分期间。利用该计算出的评价值来求出射出成型状况的判定结果。即,作为指定期间,可进行与成型周期内的特定一部分期间相关的评价值的计算、判定。

技术领域

本发明涉及例如用于射出成型装置等的量产监视的测量设备、测量方法及程序。

背景技术

已知现有利用测量设备来对设置于射出成型装置中的传感器的检测信号进行测量的测量系统。该测量系统通过配置于射出成型机内、模具内或者成型周边设备(例如冷却用的温度调节器、抽真空装置等)内的温度传感器、压力传感器等,检测树脂等成型材料特性,并可作为波形实时输出到个人计算机等信息处理装置。

测量数据可有效用于最佳成型条件的设定、不良品的自动筛选、品质管理、模具的评价等各种各样的用途。

又,在测量系统中,对基于传感器检测信号的测量值进行监视,并可根据异常的发生而进行警报输出。通过该警报输出,可进行射出成型装置的停止、不良品的识别。

例如,作为射出成型的一般量产监视手法,有测定的传感器检测信号的峰值管理。

此外,在下述专利文献1中,公开了如下的技术:设置于射出成型装置中的传感器检测型腔内的树脂的压力,并通过放大器装置对该传感器检测信号进行采样。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利特开2008-36975号公报

发明内容

技术问题

通常来说,以一个成型周期单位来进行基于各种检测信号的监视、检测信号的平均值运算等的评价值计算。

在这里,射出成型装置的一个成型周期包括合模、树脂材料射出、保压、计量·冷却、开模、取出成型品等多个工序。然后,各种检测信号在成型周期内的各工序中意义不一样。于是,根据传感器的类别、监视目的,某个期间对于检测值来说变得不怎么有意义。例如,在取出打开模具之后的成型品的期间中,模具的温度检测值对于成型品的好坏判定就没有意义。

考虑到这样的情况,可以说根据检测信号的类别、监视目的,由一个成型周期单位的检测值求出的评价值,作为本来用于好坏判定等判定的精度有可能降低。再换句话说,如果取出一个周期内的仅特定期间的检测值,则认为对该期间的工序等可进行非常高精度的评价。

因此,本发明的目的在于,能够恰当地实行检测信号的评价精度的提高、工序单位等一部分期间的动作判定等。

技术方案

本发明涉及的测量设备包括:输入部,其能够输入传感器的检测信号,所述传感器配置于射出成型装置;评价值计算部,其利用在指定期间中输入到所述输入部的检测信号值来计算评价值,其中,所述指定期间被设为是所述射出成型装置的一个成型周期的期间内的一部分期间;以及判定处理部,其利用所述评价值计算部计算出的评价值求出射出成型状况的判定结果。

在射出成型装置的一个成型周期的期间内,各种传感器的检测信号描绘表示各自特有波动的曲线。此外,一个成型周期是指,从开始合模并投入树脂的时间点到起模并取出成型品为止的期间。然后,通过成型周期中的检测信号值的运算,可生成评价值。在这里,不是以整个成型周期,而是以成型周期的一部分指定期间为对象,用该指定期间的检测信号值来进行评价值的计算及使用了评价值的判定。

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