[发明专利]一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪

权利要求书

1.一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，包括X射线发生器、X射线衍射分析组件和荧光探测器，其特征在于：还包括其上下两层分别为荧光样品托盘和衍射样品托盘的双层旋转台，所述荧光样品托盘上设有若干荧光分析样品槽和与所述若干荧光分析样品槽相互间隔设置的若干通光孔，所述衍射样品托盘上设有与所述若干通光孔一一对应的若干衍射分析样品槽，一步进电机通过一旋转杆连接所述双层旋转台以驱动所述双层旋转台转动，所述步进电机安装于第四安装板，一立式伞轮与所述步进电机连接以在所述步进电机的驱使下立向转动，所述旋转杆穿过一卧式伞轮的中心且通过一下轴承座安装于所述第四安装板，所述卧式伞轮与所述旋转杆固定接触，且所述立式伞轮和所述卧式伞轮的啮齿相互啮合；所述X射线衍射分析组件平行于X射线光路立式安装，包括上下设置的准直调节模块和衍射探测模块，所述准直调节模块包括千分尺位移台和设于所述千分尺位移台活动面的针孔准直器，所述千分尺位移台的上端面固定于第三安装板的下表面，所述针孔准直器位于所述千分尺位移台的下端面，所述千分尺位移台具有一X向调节柄和与所述X向调节柄垂直设置的Y向调节柄，所述X向调节柄和所述Y向调节柄均与所述活动面连接以调节所述活动面在X向上或者在与所述X向垂直的Y向上的坐标，所述X向和所述Y向均垂直于立式方向，所述第四安装板上开设有一通孔，所述衍射探测模块包括卡设于所述通孔且向下固定于第五安装板的真空腔和位于所述真空腔内的CCD探测器，所述真空腔的上端面设有X射线可以透过的铍窗，所述CCD探测器位于所述铍窗的正下方，所述衍射样品托盘位于所述准直调节模块和所述衍射探测模块之间，所述荧光探测器垂直于所述X射线光路卧式安装，所述荧光探测器固定于第二安装板的下表面，且位于所述X射线发生器和所述荧光样品托盘之间，所述荧光分析样品槽放置荧光样品的面为倾斜面，所述倾斜面朝向所述荧光探测器设置。

2.如权利要求1所述的可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，其特征在于：所述荧光分析样品槽和所述通光孔的数量各为三个，所述荧光分析样品槽和相邻的所述通光孔之间的位置夹角为60°。

3.如权利要求1所述的可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，其特征在于：所述第四安装板水平设置。

4.如权利要求3所述的可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，其特征在于：所述第二安装板水平设置，并位于所述第四安装板上方，一轴承安装座通过四丝杆固定的挂设于所述第二安装板，所述旋转杆的上端穿过所述荧光样品托盘后通过一上轴承座安装于所述轴承安装座。

5.如权利要求4所述的可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，其特征在于：所述第三安装板水平设置，并位于所述第二安装板和所述第四安装板之间。

6.如权利要求4所述的可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，其特征在于：还包括水平设置的位于所述第二安装板上方的第一安装板，所述X射线发生器通过角码固定于所述第一安装板的下表面。

7.如权利要求4所述的可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，其特征在于：所述荧光探测器位于所述第二安装板和所述轴承安装座之间。

8.如权利要求3所述的可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，其特征在于：所述荧光样品托盘和所述衍射样品托盘均通过位于各自上下表面的锁紧螺母固定于所述旋转杆。

9.如权利要求3所述的可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，其特征在于：所述第五安装板水平设置，并位于所述第四安装板下方，所述真空腔的底壁设有航空插座，所述CCD探测器通过设于所述真空腔的底壁的航空插座与系统控制单元连接。

10.如权利要求9所述的可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，其特征在于：所述CCD探测器的背部通过紫铜块与所述真空腔的底壁连接，所述真空腔的底壁的外侧设有散热风扇。