[发明专利]一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪

说明书

本发明提供一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，包括X射线发生器、X射线衍射分析组件和荧光探测器，还包括其上下两层分别为荧光样品托盘和衍射样品托盘的双层旋转台，荧光样品托盘上设有若干荧光分析样品槽和若干通光孔，衍射样品托盘上设有与若干通光孔一一对应的若干衍射分析样品槽，一步进电机通过一旋转杆连接双层旋转台；X射线衍射分析组件包括准直调节模块和衍射探测模块，衍射样品托盘位于准直调节模块和衍射探测模块之间，荧光探测器位于X射线发生器和荧光样品托盘之间，荧光分析样品槽朝向荧光探测器设置。本发明的有益效果：集X射线荧光分析和X射线衍射分析于一体且能够一次性容纳多种样品。

技术领域

本发明涉及X射线分析技术领域，尤其涉及一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪。

背景技术

X射线是一种波长极短，能量很大的电磁波，当它照射在物体表明时会同时发生多种效应，可以用作不同的用途。比如X射线有比较强的穿透作用，这个效应可以用于拍摄X光片，或者用于工业探伤等。

荧光分析是利用X射线激发样品发出荧光，由探测器接收荧光后对其能量和强度进行分析的技术，由于不同元素激发的荧光产生的能量和强度与元素的类型和含量密切相关，故可进行定性和定量分析。

衍射分析是利用X射线被原子散射，在某些特定的方向上会得到衍射加强的光子，由探测器接收不同入射角度的X射线对应的衍射光子数，这种特定角度的衍射光子反映了物质原子的空间结构信息，可以进行以物相分析为主的技术，也可以进行定性和半定量分析。

虽然荧光和衍射分析在功能用途上相似，但彼此不能完全互相取代，荧光分析侧重于元素的类型和含量，而衍射分析侧重于原子的空间排布，如果将两者进行结合将完成更加全面和完善的分析，具备更广泛的用途。

目前针对X射线荧光和衍射分析而独立研发的商用仪器比较成熟，但同时具备荧光和衍射分析功能的仪器很少。通常当需要两种不同功能的分析时，用户需要分别对不同的设备进行操作，工作效率低；而且多种设备采购费用高，尤其X射线衍射分析设备占地体积大，不利于现场环境的使用。因此一种集荧光和衍射分析功能的设备具有很好的应用前景和价值。同时常规的荧光、衍射分析仪器一次只能对一种样品进行分析，分析完一种样品后需要人为地更换样品，当有多个样品待分析时，频繁更换样品既花费时间和人工精力，又容易造成仪器防护门的损坏，影响仪器的封闭性能。因此需要一种可容纳多种样品的载物装置来实现一次装填多种样品进行多样分析的目标。

针对目前市场上X射线荧光与衍射组合功能分析的仪器不多，同时常规仪器只能一次装样分析一次，工作效率低的问题，本发明提出一种可旋转的多样品载物装置，并将荧光和衍射分析功能结合，形成一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪。

发明内容

有鉴于此，本发明的实施例提供了一种能够一次性容纳多种样品且集X射线荧光和X衍射分析于一体的可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪。

本发明的实施例提供一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，包括X 射线发生器、X射线衍射分析组件和荧光探测器，还包括其上下两层分别为荧光样品托盘和衍射样品托盘的双层旋转台，所述荧光样品托盘上设有若干荧光分析样品槽和与所述若干荧光分析样品槽相互间隔设置的若干通光孔，所述衍射样品托盘上设有与所述若干通光孔一一对应的若干衍射分析样品槽，一步进电机通过一旋转杆连接所述双层旋转台以驱动所述双层旋转台转动；所述X射线衍射分析组件平行于X射线光路立式安装，包括上下设置的准直调节模块和衍射探测模块，所述衍射样品托盘位于所述准直调节模块和所述衍射探测模块之间，所述荧光探测器垂直于所述X射线光路卧式安装，所述荧光探测器位于所述X射线发生器和所述荧光样品托盘之间，所述荧光分析样品槽放置荧光样品的面为倾斜面，所述倾斜面朝向所述荧光探测器设置。

进一步地，所述荧光分析样品槽和所述通光孔的数量各为三个，所述荧光分析样品槽和相邻的所述通光孔之间的位置夹角为60°。