[发明专利]一种缺陷检测方法及装置

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第一量化数据；

移动所述待检测面板至第二方位，所述第二方位与所述第一方位不同；

采集处于所述第二方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第二量化数据；

根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷；

所述移动所述待检测面板至第二方位包括：

旋转所述待检测面板至所述第二方位；

所述根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷包括：

将所述第一量化数据和所述第二量化数据中对应相同位置的量化数据与基准值之差的绝对值的平均值与阈值进行比较；

若所述平均值大于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置具有实际缺陷；

若所述平均值小于或等于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置不具有实际缺陷。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第一量化数据包括：多次采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取多个所述检测画面中目标区域的量化数据的平均值作为第一量化数据；

和/或，所述采集处于所述第二方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第二量化数据包括：多次采集处于第二方位的待检测面板的检测画面，获取多个所述检测画面中目标区域的量化数据的平均值作为第二量化数据。

3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述移动所述待检测面板至第二方位包括：

旋转所述待检测面板180°至所述第二方位。

4.根据权利要求1-3任一项所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述量化数据为亮度数值。

5.根据权利要求1-3任一项所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述待检测面板为LCD面板或OLED面板。

6.一种缺陷检测的装置，其特征在于，包括：

采集模块，用于在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位和第二方位的待检测面板的检测画面，其中，所述第二方位与所述第一方位不同；

获取模块，用于获取所述处于第一方位和第二方位的待检测面板的检测画面中目标区域的第一量化数据和第二量化数据；

移动模块，用于将所述待检测面板由所述第一方位旋转至所述第二方位；

确定模块，用于根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷；

所述确定模块具体用于将所述第一量化数据和所述第二量化数据中对应相同位置的量化数据与基准值之差的绝对值的平均值与阈值进行比较；

若所述平均值大于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置具有实际缺陷；

若所述平均值小于或等于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置不具有实际缺陷。

7.根据权利要求6所述的缺陷检测的装置，其特征在于，所述移动模块包括工作台和用于移动该工作台的电机，所述工作台用于承载所述待检测面板。

8.根据权利要求6所述的缺陷检测的装置，其特征在于，所述移动模块用于将所述待检测面板由所述第一方位旋转180°至所述第二方位。

9.根据权利要求6-8任一项所述的缺陷检测的装置，其特征在于，所述采集模块为CCD。