[发明专利]一种缺陷检测方法及装置

说明书

本发明实施例提供一种缺陷检测方法及装置，涉及光学自动化缺陷检测领域，能够通过一种简单的缺陷检测方法来降低缺陷的过判率。该缺陷检测方法包括在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取检测画面中目标区域的第一量化数据；移动待检测面板至第二方位，第二方位与第一方位不同；采集处于第二方位的待检测面板的检测画面，获取检测画面中目标区域的第二量化数据；根据同一目标区域中第一量化数据和第二量化数据，确定目标区域中的实际缺陷。

技术领域

本发明涉及光学自动化缺陷检测领域，尤其涉及一种缺陷检测方法及装置。

背景技术

目前，在LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)的工厂检测工艺阶段多采用AOI(Automatic Optic Inspection，自动光学检测)算法流程对LCD面板的缺陷进行检测，该算法流程一般包括ROI(Region of Interest，目标区域)分割和缺陷量化两个关键步骤，其中，缺陷量化就是将面板在点灯画面下的亮度差异按照一定基准进行量化，通过量化数据的对比以及相关缺陷标准的制定来进行缺陷性质的判定。

然而，由于LCD面板中的缺陷，例如Mura(云纹现象)，存在的ROI大小、区域、形状不定，且容易受到环境尤其是灯光的影响，现有技术在采用单一缺陷量化算法的情况下，量化数值不会发生变化，通过单纯改变检测阈值的做法，不能从根本上解决因外界环境产生的缺陷而导致的过判率较大的问题；当然，可以采用多参数联调或者使用高精度相机的做法，但是该方法调试周期长、且改变型号就要重新调试使得成本相对较高。

发明内容

本发明的实施例提供一种缺陷检测方法及装置，能够通过一种简单的缺陷检测方法来降低缺陷的过判率。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

本发明实施例一方面提供一种缺陷检测方法，包括：在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第一量化数据；移动所述待检测面板至第二方位，所述第二方位与所述第一方位不同；采集处于所述第二方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第二量化数据；根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷。

进一步优选的，所述根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷包括：将所述第一量化数据和所述第二量化数据中对应相同位置的量化数据与基准值之差的绝对值的平均值与阈值进行比较；若所述平均值大于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置具有实际缺陷；若所述平均值小于或等于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置不具有实际缺陷。

进一步优选的，所述采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第一量化数据包括：多次采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取多个所述检测画面中目标区域的量化数据的平均值作为第一量化数据；和/或，所述采集处于所述第二方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第二量化数据包括：多次采集处于第二方位的待检测面板的检测画面，获取多个所述检测画面中目标区域的量化数据的平均值作为第二量化数据。

进一步优选的，所述移动所述待检测面板至第二方位包括：旋转所述待检测面板180°至所述第二方位。

进一步优选的，所述量化数据为亮度数值。

进一步优选的，所述待检测面板为LCD面板或OLED面板。