[发明专利]一种无损检测系统有效

专利信息
申请号: 201710659593.6 申请日: 2017-08-04
公开(公告)号: CN107271466B 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 芦少翔;杨国芳;左培庆;王伟湘 申请(专利权)人: 武汉三联特种技术股份有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01S17/08;G01S19/42
代理公司: 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 代理人: 黄君军
地址: 430312 湖北省武汉市黄陂区*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 无损 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种无损检测系统,其特征在于,包括服务器和无损检测装置,所述无损检测装置包括:

X射线机,其包括X射线机本体及设于所述X射线机本体一侧的射线窗口;

激光测距仪,其包括一靠近所述射线窗口内壁设置的激光探头、与所述激光探头电连接的激光测距模块、一用于显示测量距离的显示屏、一用于拍摄待测物的检测面的摄像头、一用于驱动所述激光探头运动至所述射线窗口轴心的伸缩杆及一驱动所述伸缩杆运动的驱动电机;

控制台,其包括一箱体、一铰接于所述箱体的开口端的盖体、一内置于所述箱体的控制器及一与控制器通信连接的控制平板,控制平板具有指纹识别功能,其用于指纹识别通过后进入控制平板以显示、操作并控制控制器工作;

定位组件,其包括一与控制器连接并用于对控制台进行定位的GPS定位模块;

其中,所述控制平板与所述服务器无线通信连接并用于将GPS定位模块的定位信息发送至服务器;

所述控制台还包括曝光参数采集模块,其包括一用于记录X射线机的曝光时间的曝光时间记录单元、一用于测量X射线机的管电流的管电流测量单元、用于测量X射线机的管电压的管电压测量单元、及一用于采集X射线机的焦距的焦距采集单元,所述曝光时间记录单元、管电流测量单元、管电压测量单元和焦距采集单元均与所述控制器连接,所述控制器用于将X射线机的管电流、管电压、焦距及曝光时间发送至所述控制平板,所述控制平板用于将X射线机21的管电流、管电压、焦距及曝光时间发送至服务器。

2.根据权利要求1所述的无损检测系统,其特征在于,所述伸缩杆包括一丝杆、与所述丝杆螺纹配合的螺母及与所述螺母连接的驱动杆,所述驱动电机与所述丝杆连接,所述激光探头设于所述驱动杆远离螺母一端。

3.根据权利要求2所述的无损检测系统,其特征在于,所述激光测距仪还包括一设于所述射线窗口一侧的壳体,所述驱动杆一端与内置于所述壳体的螺母连接、另一端延伸至所述射线窗口内并与激光探头连接。

4.根据权利要求2或3所述的无损检测系统,其特征在于,所述激光测距仪还包括一设于驱动电机的输出端的主动齿轮及一套设于所述连接杆并与所述主动齿轮相啮合的从动齿轮。

5.根据权利要求4所述的无损检测系统,其特征在于,所述定位组件包括还包括用于对控制台进行定位的WIFI定位模块和基站定位模块,所述WIFI定位模块和基站定位模块均与所述控制器连接。

6.根据权利要求5所述的无损检测系统,其特征在于,所述曝光参数采集模块还包括用于将管电流测量单元和管电压测量单元测量的管电流和管电压进行光电隔离的光耦隔离单元。

7.根据权利要求6所述的无损检测系统,其特征在于,所述服务器包括一用于根据待测物的原始参数及X射线机的焦距自动生成曝光参数的工艺参数控制模块,一用于根据待测物的原始参数、曝光参数及曝光图像判断缺陷等级的检测结果评定模块,一用于将检测结果评定模块判断的检测结果生成检测报告的检测报告生成模块及一用于将待测物无损检测的原始参数、曝光参数、位置信息、时间信息及判断结果集合形成二维码的标识模块。

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