[发明专利]一种无损检测系统

说明书

本发明公开了一种无损检测系统，包括服务器和无损检测装置，无损检测装置包括：X射线机；激光测距仪，包括激光探头、激光测距模块、显示屏、摄像头、伸缩杆及驱动电机；控制台，包括箱体、盖体、控制器及控制平板；定位组件，包括GPS定位模块；控制平板与服务器无线通信连接并用于定位信息发送至服务器。本发明设置激光测距仪，其可驱动激光探头运动至射线窗口轴心，以便于激光探头发出的激光与X射线同轴，进而测量激光探头与待测物之间的距离以获取焦距，其利于提高焦距测量的精度，避免人工测量出现误差；并通过定位组件对控制台进行定位，保证检测位置与待检测点的一致性及委托检测焊口与实际检测焊口的一致性，提高了有效检测的几率。

技术领域

本发明涉及无损检测技术，尤其是涉及一种无损检测系统。

背景技术

无损检测是指在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织的前提下，利用材料内部结构异常或缺陷存在引起的热、声、光、电、磁等反应的变化，以物理或化学方法为手段，借助现代化的技术和设备器材，对试件内部及表面的结构、性质、状态及缺陷的类型、性质、数量、形状、位置、尺寸、分布及其变化进行检查和测试的方法。

X射线无损检测则是利用X射线在穿透物质过程中与物质相互作用，因吸收和散射而使强度减弱。强度衰减程度取决于物质的衰减系数和射线在物质穿越的厚度。如果被透照物体(被检试件)的局部存在缺陷，且构成缺陷的物质衰减系数又不同于试件本体，该局部区域的透过射线强度就会与周围产生差异。把胶片放在被透照试件位置背面使其在透过射线的作用下感光，经暗室处理后得到底片。由于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同，底片上相应部位就会出现黑度差异，据此来判断材料内部缺陷情况的一种检验方法。

目前，在X射线无损检测时，一般通过人工测量底片曝光焦距，具体为其通过人工测量X射线源焦点至胶片之间的距离，由于人工测量精度低、测量误差大，其严重制约着射线检测的质量；同时，现有的无损检测一般为检测人员自行检测，而在实际应用时，部分现场检测人员为了省事省力而投机取巧、弄虚作假，其并不进入现场检测位置，而通过其他替代物的曝光图像替代检测点的曝光图像，或者对一个检测点进行多次曝光以替代多个检测点，其导致客户的委托检测焊口与实际检测焊口出现了不一致性，其形成了无效检测，严重影响了客户委托检测设备的安全使用。

发明内容

本发明的目的在于克服上述技术不足，提出一种无损检测系统，解决现有技术中无损检测中人工测量焦距的精度低、误差大而导致检测质量低以及现场检测人员投机取巧、弄虚作假而导致委托检测焊口与实际检测焊口不一致的技术问题。

为达到上述技术目的，本发明的技术方案提供一种无损检测系统，包括包括服务器和无损检测装置，所述无损检测装置包括：

X射线机，其包括X射线机本体及设于所述X射线机本体一侧的射线窗口；

激光测距仪，其包括一靠近所述射线窗口内壁设置的激光探头、与所述激光探头电连接的激光测距模块、一用于显示测量距离的显示屏、一用于拍摄待测物的检测面的摄像头、一用于驱动所述激光探头运动至所述射线窗口轴心的伸缩杆及一驱动所述伸缩杆运动的驱动电机；

控制台，其包括一箱体、一铰接于所述箱体的开口端的盖体、一内置于所述箱体的控制器及一与控制器通信连接的控制平板；

定位组件，其包括一与控制器连接并用于对控制台进行定位的GPS定位模块；

其中，所述控制平板与所述服务器无线通信连接并用于将GPS定位模块的定位信息发送至服务器。