[发明专利]一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法及装置有效
| 申请号： | 201710666710.1 | 申请日： | 2017-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN107478338B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 于江涛;汪浩波;李力;王志芬;盛杨波 | 申请（专利权）人： | 松下电器机电（中国）有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/02 | 分类号： | G01J5/02 |
| 代理公司： | 青岛联智专利商标事务所有限公司 37101 | 代理人： | 张少凤 |
| 地址： | 200131 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 提高 红外线 阵列 传感器 采样 分辨率 方法 装置 | ||
1.一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法，步进电机用于带动所述红外线阵列传感器转动；其特征在于，所述方法为：
将所述红外阵列传感器的相邻阵列点的检测角度N等分，根据N等分获取步进电机运转的N个轨迹点；
在所述步进电机运转至每个轨迹点时，控制所述红外线阵列传感器采样；
完成N个轨迹点的采样后，将N个轨迹点的采样按照采样顺序依次拼接生成图像；其中，N为正整数；
其中，限定所述步进电机的转动角度范围在红外阵列传感器相邻阵列点的检测角度之间。
2.根据权利要求1所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法，其特征在于，所述方法包括，获取想要得到的图像分辨率，通过想要得到的图像分辨率确定所述N的大小。
3.根据权利要求2所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法，其特征在于，N=向上取整（想要得到的图像分辨率/红外线阵列传感器的实际分辨率）。
4.根据权利要求1或2或3所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法，其特征在于，完成N个轨迹点的采样后，所述步进电机控制所述红外线阵列传感器复位。
5.根据权利要求4所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法，其特征在于，所述步进电机控制所述红外线阵列传感器复位的方法为过步控制。
6.一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的装置，其特征在于，所述装置包括：
红外线阵列传感器，用于采样；
步进电机，用于带动所述红外线阵列传感器转动；
控制器，用于获取所述红外阵列传感器的相邻阵列点的检测角度并对其N等分；根据N等分获取所述步进电机运转的N个轨迹点；用于输出控制信号控制所述步进电机运转至每个轨迹点时，控制所述红外线阵列传感器采样；用于接收所述N个轨迹点的采样，并将N个轨迹点的采样按照采样顺序依次拼接生成图像；其中，N为正整数；
其中，限定所述步进电机的转动角度范围在红外阵列传感器相邻阵列点的检测角度之间。
7.根据权利要求6所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的装置，其特征在于，所述控制器用于获取想要得到的分辨率的大小并根据想要得到的图像分辨率的大小确定N。
8.根据权利要求6所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的装置，其特征在于，所述控制器用于通过向上取整（想要得到的图像分辨率/红外线阵列传感器的实际分辨率）得到N。
9.根据权利要求6或7或8所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的装置，其特征在于，所述控制器用于在完成N个轨迹点的采样后，通过所述步进电机控制所述红外线阵列传感器复位。
10.根据权利要求9所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的装置，其特征在于，所述装置包括用于限定所述红外线阵列传感器复位位置的复位挡块，所述控制器用于输出过步控制信号控制所述步进电机过步复位。
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