[发明专利]一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法及装置

说明书

本发明公开了一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法和装置，本发明通过步进电机带动红外线阵列传感器绕转动点转动，并且将相邻阵列点的检测角度N等分，根据N等分获取步进电机运转的N个轨迹点，在步进电机运转至每个轨迹点时，控制红外线阵列传感器采样，完成N个轨迹点的采样后，将N个轨迹点的采样按照采样顺序依次拼接生成图像，因而，本发明生成图像的分辨率比红外线阵列传感器本身的分辨率提高N倍，提高对检测目标识别的精确度。

技术领域

本发明属于传感器技术领域，具体地说，是涉及一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法及装置。

背景技术

红外线阵列传感器包括若干个以像素阵列形式布置检测点。现有红外阵列传感器在检测某一特定位置的图像时，一般是朝向某一特定位置固定不动，直接采样，生成图像。由于红外阵列传感器的位置固定不动，检测点之间的间隔也固定不动，因而，每个检测点的测量区域以及整个红外阵列传感器的测量区域也都固定不变，从而造成生成的图像分辨率固定且不可调节，影响识别的精确度。

发明内容

本发明的目的是提供一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法，解决了现有红外线阵列传感器生成的图像分辨率固定且不可调节，影响识别的精确度技术问题。

为实现上述发明目的，本发明提供的提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法采用下述技术方案予以实现：

一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法，步进电机用于带动所述红外线阵列传感器转动；所述方法为：

将所述红外阵列传感器的相邻阵列点的检测角度N等分，根据N等分获取步进电机运转的N个轨迹点；

在所述步进电机运转至每个轨迹点时，控制所述红外线阵列传感器采样；

完成N个轨迹点的采样后，将N个轨迹点的采样按照采样顺序依次拼接生成图像；其中，N为正整数。

如上所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法，所述方法包括，获取想要得到的图像分辨率，通过想要得到的图像分辨率确定所述N的大小。

如上所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法，N=向上取整（想要得到的图像分辨率/红外线阵列传感器的实际分辨率）。

如上所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法，完成N个轨迹点的采样后，所述步进电机控制所述红外线阵列传感器复位。

如上所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的方法，所述步进电机控制所述红外线阵列传感器复位的方法为过步控制。

本发明还提出了一种提高红外线阵列传感器采样分辨率的装置，包括：

红外线阵列传感器，用于采样；

步进电机，用于带动所述红外线阵列传感器转动；

控制器，用于获取所述红外阵列传感器的相邻阵列点的检测角度并对其N等分；根据N等分N获取所述步进电机运转的N个轨迹点；用于输出控制信号控制所述步进电机运转至每个轨迹点时，控制所述红外线阵列传感器采样；用于接收所述N个轨迹点的采样，并将N个轨迹点的采样按照采样顺序依次拼接生成图像；其中，N为正整数。

如上所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的装置，所述控制器用于获取想要得到的分辨率的大小并根据想要得到的图像分辨率的大小确定N。

如上所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的装置，所述控制器用于通过向上取整（想要得到的图像分辨率/红外线阵列传感器的实际分辨率）得到N。

如上所述的提高红外线阵列传感器采样分辨率的装置，所述控制器用于在完成N个轨迹点的采样后，通过所述步进电机控制所述红外线阵列传感器复位。