[发明专利]基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统及方法有效
申请号: | 201710691679.7 | 申请日: | 2017-08-14 |
公开(公告)号: | CN109388838B | 公开(公告)日: | 2023-02-17 |
发明(设计)人: | 高翔 | 申请(专利权)人: | 福建永福数字能源技术有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 宣慧兰 |
地址: | 350108 福建省福州市*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 语义 强度 分层 scd 二次 回路 检查 系统 方法 | ||
1.一种基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统,其特征在于,该系统包括:
基于IEC61850标准的第一检查模块(1):该模块根据SCD文件解析得到IED静态模型,并对IED静态模型进行SCD语义检查;
基于SCD规范的第二检查模块(2):该模块对第一检查模块(1)检查后符合SCD语义检查规则的IED静态模型进行IED属性规范检查;
基于Q/GDW 1396规范的第三检查模块(3):该模块对第二检查模块(2)检查符合IED属性规范的IED静态模型进行IED配置检查;
基于Q/GDW 1161和Q/GDW 1175规范的第四检查模块(4):该模块对第三检查模块(3)检查符合IED配置检查规则的IED静态模型进行二次虚回路检查,进而输出二次虚回路检查结果。
2.根据权利要求1所述的一种基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统,其特征在于,第一检查模块(1)包括:
SCD解析单元:该单元获取SCD文件并解析得到二次虚回路IED静态模型;
语义规则单元:该单元基于IEC61850标准构建SCD语义检查规则形成语义检查规则XSD文件;
IED静态模型比较单元:比对IED静态模型和语义检查规则XSD文件,判断IED静态模型是否满足SCD语义检查规则;
SCD语义检查结果输出单元:将符合SCD语义检查规则的IED静态模型发送至第二检查模块(2),不符合SCD语义检查规则的IED静态模型以列表方式输出。
3.根据权利要求1所述的一种基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统,其特征在于,第二检查模块(2)包括:
SCD规则单元:基于SCD规范构建一次系统的接线方式、电压等级、所属间隔的二次虚回路正确性定义,以判别二次虚回路与一次设备对应关系,形成IED属性规范;
IED属性检查单元:将经过第一检查模块(1)检查符合SCD语义检查规则的IED静态模型与IED属性规范进行比对,判断IED静态模型是否符合IED属性规范;
IED属性检查结果输出单元:将符合IED属性规范的IED静态模型输出至第三检查模块(3),不符合IED属性规范的IED静态模型以列表方式输出。
4.根据权利要求1所述的一种基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统,其特征在于,第三检查模块(3)包括:
1396规范解析单元:基于Q/GDW 1396规范,构建IED规范检查模型,形成IED配置检查规则;
IED配置规范检查单元:将经过第二检查模块(2)检查符合IED属性规范的IED静态模型与IED配置检查规则进行比对,判断IED静态模型是否满足IED配置检查规则;
IED配置检查输出单元:将符合IED配置检查规则的IED静态模型输出至第四检查模块(4),不符合IED配置检查规则的IED静态模型以列表方式输出。
5.根据权利要求1所述的一种基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统,其特征在于,第四检查模块(4)包括:
二次虚回路检查规则构建单元:该单元基于Q/GDW 1161规范构建路径检查规则和DESC检查规则,同时该单元基于Q/GDW 1175规范构建引用路径及DESC的检查规则;
二次虚回路检查单元:该单元将经过第三检查模块检查符合IED配置检查规则的IED静态模型分别与二次虚回路检查规则构建单元构建的所有检查规则进行对比,判断IED静态模型是否满足所有检查规则,若满足则二次虚回路正确;
二次虚回路检查结果输出单元:将二次虚回路检查单元的检查结果以列表方式输出。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福建永福数字能源技术有限公司,未经福建永福数字能源技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710691679.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种利用历史数据进行虚拟轧钢的方法
- 下一篇:时钟系统性能分析方法及装置