[发明专利]漏电流检测装置及其检测方法

说明书

本发明提供一种漏电流检测装置及其检测方法，用于检测受测电路在闲置状态时产生的漏电电流。漏电流检测装置包括电容、预充电电路、放电电流产生器以及检测结果产生器。预充电电路于第一时间区间提供预充电流对电容进行预充电动作。放电电流产生器在受测电路在闲置状态下，且在第二时间区间，依据漏电电流产生放电电流，并使电容依据放电电流执行放电动作。检测结果产生器在第二时间区间中依据比较检测端点上的电压值与预设的参考电压的电压值来产生漏电检测结果。

技术领域

本发明涉及一种漏电流检测装置及其检测方法，尤其涉及一种能够检测与降低受测电路在闲置状态时的漏电电流的漏电流检测装置及其检测方法。

背景技术

随着科技的进步，集成电路(Integrated Circuit,IC)的元件已微缩化至纳米尺寸，相关技术人员以朝着降低晶体管的临界电压(Threshold Voltage)以及其工作电压的设计目标迈进。然而，为了达到上述的设计要求，进而造成电子电路所可能产生的漏电电流(leakage current)提升的状况。除此之外，电子装置工作在操作状态时，容易受到芯片内部所产生出的热能或是外在环境温度的影响，进而导致电子装置在运作时可能因温度的改变产生难以预期的漏电电流的大小。这个状况除了严重影响电子电路自身的工作效率外，更加降低生产芯片时的良率以及电子装置的效能。因此，如何在电子装置工作在操作状态时有效地检测出受测电路的漏电电流，并且将所述漏电电流加以降低，将是本领域相关技术人员的课题。

发明内容

本发明提供一种漏电流检测装置以及检测方法，可检测与降低受测电路中的漏电电流。

本发明的漏电流检测装置用于检测受测电路在闲置状态时产生的漏电电流，包括电容、预充电电路、放电电流产生器以及检测结果产生器。电容耦接在检测端点与参考接地端间。预充电电路耦接至检测端点，于第一时间区间提供预充电流对电容进行预充电动作。放电电流产生器耦接至检测端点及受测电路，在受测电路在闲置状态下，且在第二时间区间，依据漏电电流产生放电电流，并使电容依据放电电流执行放电动作。检测结果产生器耦接电容，在第二时间区间中依据比较检测端点上的电压值与预设的参考电压的电压值来产生漏电检测结果。其中，第一时间区间发生在第二时间区间之前。

在本发明的漏电流检测装置的漏电检测方法，用于检测受测电路在闲置状态时产生的漏电电流，其中漏电检测方法包括：于第一时间区间提供预充电流对电容进行预充电动作；在受测电路在闲置状态下，且在第二时间区间，依据漏电电流产生放电电流，并使电容依据放电电流执行放电动作；在第二时间区间中依据比较检测端点上的电压值与预设的参考电压的电压值来产生漏电检测结果，其中，第一时间区间发生在第二时间区间之前。

基于上述，本发明所述的漏电流检测装置是利用预充电电路于第一时间区间时，对电容进行预充电动作，并通过放电电路产生器于第二时间区间时，使电容执行放电动作。通过检测结果产生器于第二时间区间中，依据比较上述电容上的放电电压值与预设的参考电压的电压值来产生受测电路的漏电电流的漏电检测结果。如此一来，工作电压产生器可依据上述的漏电检测结果判断是否调降受测电路的工作电压，以降低受测电路操作于闲置状态时所产生的漏电电流。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1是依照本发明一实施例说明一种漏电流检测装置的方块图；

图2是依照本发明一实施例说明一种漏电流检测装置的电路示意图；

图3是依照本发明一实施例说明一种漏电流检测装置的动作波形示意图；

图4A是依照本发明另一实施例说明一种漏电流检测装置的电路示意图；

图4B是依照本发明另一实施例说明图4A的检测结果产生器的电路示意图；