[发明专利]GOA阵列基板及TFT显示大板

说明书

本发明提供一种GOA阵列基板及TFT显示大板。本发明的GOA阵列基板，将部分GOA单元中电容结构的第二电极设置为TFT测试键，该TFT测试键包括第一测试部、第二测试部、及连接所述第一测试部和第二测试部的第三连接部，其中，所述第一测试部和第二测试部分别对应TFT结构中的源极单元的形状和漏极单元的形状设置，所述第一测试部和第二测试部所构成的图形与所述TFT结构中的至少一个源漏极单元组的图形相同，本发明区分了TFT测试键位于基板内外监控可靠性的差异，将用于监控的TFT测试键设置于GOA电路中，能够精确监控GOA电路中TFT的沟道长度与源漏极最终蚀刻完成值，从而找出最佳的制程设计值。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种GOA阵列基板及TFT显示大板。

背景技术

在显示技术领域，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)与有机发光二极管显示器(Organic Light Emitting Diode，OLED)等平板显示器已经逐步取代CRT显示器，广泛的应用于液晶电视、手机、个人数字助理、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等。显示面板是LCD和OLED的重要组成部分。不论是LCD的显示面板，还是OLED的显示面板，通常都具有一薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)阵列基板。以LCD的显示面板为例，其主要是由一TFT阵列基板、一彩色滤光片(Color Filter，CF)基板、以及配置于两基板间的液晶层(Liquid Crystal Layer)所构成，其工作原理是通过在TFT阵列基板与CF基板上施加驱动电压来控制液晶层中液晶分子的旋转，将背光模组的光线折射出来产生画面。

随着显示技术的发展，人们对消费性电子产品的要求已经不单单局限于功能性，同时也更转向于设计性、艺术性以及具有良好的视觉体验性方面，比如当前盛行的窄边框显示产品，那么顾名思义，窄边框即将传统的显示面板的边框进一步缩窄，进一步的扩大显示区域(Active Area，AA)的面积，进而达到更高阶的视觉体验和产品设计美感。

GOA(Gate Driver on Array)技术即阵列基板行驱动技术，是利用薄膜晶体管阵列制程将栅极扫描驱动电路制作在TFT阵列基板上，以实现逐行扫描的驱动方式，具有降低生产成本和实现面板窄边框设计的优点，为多种显示器所使用。GOA电路具有两项基本功能：第一是输出栅极扫描驱动信号，驱动面板内的栅极线，打开显示区内的TFT，以对像素进行充电；第二是移位寄存功能，当一个栅极扫描驱动信号输出完成后，通过时钟控制进行下一个栅极扫描驱动信号的输出，并依次传递下去。GOA技术能减少外接IC的焊接(Bonding)工序，有机会提升产能并降低产品成本，而且可以使液晶显示面板更适合制作窄边框的显示产品。

一般在显示面板的产品制造阶段，为监控显示器面板产品的有效发光区的特性值，会在排列有多个显示基板的大板四周或显示面板四周设计测试元件组(TEG，TestElement Group)，其包含多个测试键(Test key)，这些测试键用于监控如显示面板的电路中的TFT(薄膜晶体管)/Rs(线电阻或面电阻)/Rc(不同导体间的接触电阻)/C(电容)等各种组件的RC特性。

位于显示面板外围区域的GOA电路中包含了多颗TFT器件，各TFT器件的沟道长度、源漏极最终蚀刻完成值攸关整个GOA电路的运作功能与稳定性，如图1所示，多个阵列基板11同时制作于同一大板10上，待阵列基板11制作完成后通过对大板10进行切割得到独立的多个阵列基板11，因此，在阵列基板11的制作过程中，通常会在大板10的各个阵列基板11之间的区域上制作相应的TFT测试键20，以对TFT器件进行监控找出补偿值，但是由于该TFT测试键20摆放在大板10的各个阵列基板11之间，而非制作在阵列基板11上，而GOA电路15制作于阵列基板11的显示区域的相对两侧上，由于TFT测试键20同GOA电路15中的TFT器件的摆放位置不同以及制程上负载效应(Loading Effect)的差异，会导致该TFT测试键15的监测效果不准确。

发明内容