[发明专利]适用于主动时钟模式器件综合测试的共时基装置有效
申请号: | 201710727144.0 | 申请日: | 2017-08-23 |
公开(公告)号: | CN107576867B | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 郭敏;丁志钊;王尊峰;刘忠林 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 | 代理人: | 肖峰 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 适用于 主动 时钟 模式 器件 综合测试 共时 装置 | ||
本发明公开了一种适用于本地主动式时钟工作模式器件综合测试的共时基装置及方法,具体涉及微波测试技术领域。该适用于本地主动式时钟工作模式器件综合测试的共时基装置,包括功分器,功分器的输出端连有异频时钟共时基闭环控制环路和测频模块,异频时钟共时基闭环控制环路的输出端连接滤波器,测频模块和异频时钟共时基闭环控制环路通过数据总线连接主控单元,主控单元通过数据总线连接接口电路,接口电路通过标准程控总线连接上位机。其解决了对只有本地时钟输出端口的器件而言,由于其本地时钟与自身技术特性紧密相关,往往存在与常用测试仪器外部参考时钟(通常为10MHz)之间由于频率差异而无法实现共时基的不足。
技术领域
本发明涉及微波测试技术领域,具体涉及一种适用于本地主动式时钟工作模式器件综合测试的共时基装置及方法。
背景技术
对于只有本地时钟输出端口的器件而言,由于其本地时钟与自身技术特性紧密相关,往往存在与常用测试仪器外部参考时钟(通常为10MHz)之间由于频率差异而无法实现共时基的问题。因为基于共时基模式的时序同步及控制等是实现精确综合测试的关键所在,因此需要一种适用于本地主动式时钟工作模式器件综合测试的共时基方法,支撑解决对该类器件与时序控制及同步等相关的精确综合测试功能实现问题,以通用化的方式最大限度地满足实际应用的测试需求。
目前对此类问题的解决方式主要取决于常用测试仪器的外部参考时钟技术特性。通常情况下,常用测试仪器的外部参考时钟频率为10MHz,如果不针对被测试器件的输出时钟频率进行适应性更改设计,则无法实现测试的共时基;部分测试仪器的外部参考时钟频率具有一定范围,如果被测试器件的输出时钟频率在此范围内且幅度等技术特性也满足测试仪器的要求,则可以实现测试的共时基,但如果不在此范围内则无法实现测试的共时基。
利用目前常用测试仪器的外部参考时钟工作模式解决只有本地时钟输出端口的被测试器件综合测试的共时基问题,存在如下不足:
1、对于外部参考时钟频率为10MHz的常用测试仪器,如果不针对被测试器件的输出时钟频率进行适应性更改设计,则无法实现测试的共时基;
2、对于外部参考时钟频率具有一定范围的测试仪器,如果被测试器件的输出时钟频率不在此范围内或幅度等技术特性不满足测试仪器的要求,则无法实现测试的共时基;
3、针对被测试器件输出时钟的频率等相关技术特性,对所涉及常用测试仪器进行适应性更改设计,不仅设计更改成本高、耗时间,而且并非通用化解决方式,对于相关技术特性超出更改设计范围的被测试器件仍然不能满足测试的共时基要求,综合成本代价很高。
发明内容
本发明的目的是针对上述不足,提出了一种无需预知本地主动式时钟工作模式器件的本地时钟信息或对其频率有特定限制,也不需要根据该时钟信息对测试仪器进行适应性更改设计,即可以通过该闭环控制方法提供被测试器件与测试仪器之间的时钟“桥接”功能,实现两者之间异频时钟的共时基的适用于本地主动式时钟工作模式器件综合测试的共时基装置及方法。
本发明具体采用如下技术方案:
一种适用于本地主动式时钟工作模式器件综合测试的共时基装置,包括功分器,功分器的输出端连有异频时钟共时基闭环控制环路和测频模块,异频时钟共时基闭环控制环路的输出端连接滤波器,测频模块和异频时钟共时基闭环控制环路通过数据总线连接主控单元,主控单元通过数据总线连接接口电路,接口电路通过标准程控总线连接上位机。
优选地,所述异频时钟共时基闭环控制环路基于可编程门阵列实现,包括串联的数字鉴相器、数字环路滤波器和数字频率合成器,数字频率合成器上连有提供统一内部参考时钟的高稳时基,数字频率合成器的输出端分别连有倍频器和分频器,倍频器和分频器的输出端均与数字鉴相器相连。
一种适用于本地主动式时钟工作模式器件综合测试的共时基方法,采用如上所述的一种适用于本地主动式时钟工作模式器件综合测试的共时基装置,具体包括:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710727144.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。