[发明专利]微铜柱的制造方法有效
申请号: | 201710735809.2 | 申请日: | 2017-08-24 |
公开(公告)号: | CN107546139B | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 王福亮;王峰;赵志鹏;聂南天;任鑫宇;曾鹏;朱文辉 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/485 |
代理公司: | 长沙永星专利商标事务所(普通合伙) 43001 | 代理人: | 邓淑红 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微铜柱 制造 方法 | ||
本发明公开了一种微铜柱的制造方法,包括:步骤一、在绝缘衬底上完成多层RDL金属互连结构,在最后一层金属互连结构外对应导电通道位置处设置焊盘;步骤二、制作微阳极,微阳极的直径与微铜柱的直径相匹配;步骤三、制作微阳极夹具盘,将制作好的微阳极安装于微阳极夹具盘上对应焊盘的区域,并将各微阳极连通;步骤四、将装有微阳极的微阳极夹具盘放置在芯片上方,使微阳极与焊盘一一对应,将微阳极夹具盘连接至电镀电源的正极,芯片连接至电镀电源的负极;步骤五、采用局部电化学沉积方法,在焊盘上电镀沉积出需要的微铜柱。对设备的要求较低,制备过程简单,降低了制作成本;并且可通过多焊盘和多微阳极同时制备多个微铜柱,生产效率较高。
技术领域
本发明属于微电子三维集成互连领域,具体涉及一种微铜柱的制造方法。
背景技术
集成电路(IC)制造是高新技术核心的产业之一。为应对尺寸更小、功能更强的需求挑战,IC的集成度增加、特征线宽降低到32nm以下,逐渐接近物理极限。业界认为更有效的解决方法之一是系统级封装(System in Package,SiP)技术。即将多个不同功能的有源/无源/MEMS/生物芯片等器件,在三维高度方向上互连,组装成多功能的单个标准封装子系统的先进封装技术。
微铜柱是实现不同芯片层之间电学互连的必要结构之一,一般是在布线层上的焊盘中,制造微铜柱(copper pillar),通过微铜柱与临近层的微铜柱的键合,实现不同芯片层之间电学互连。
目前工业上制造微铜柱的方法主要是图形化电镀工艺,其主要步骤为:1)通过PVD工艺淀积金属粘附层/扩散阻挡层/铜种子层;2)通过旋转涂敷光刻胶或干膜工艺涂布光刻胶薄膜;3)通过曝光/显影等工艺对光刻胶进行图形化处理,在光刻胶被显影和去除的区域进行铜电镀;4)在通过化学溶液去除光刻胶,最后利用化学试剂刻蚀种子层/阻挡层/金属粘附层。这样的制造方法存在以下问题:1)制造步骤复杂,需要动则上千万的昂贵光刻和电镀设备,制造成本高;2)微铜柱的电镀速度慢,制造效率低,高度为40um的微铜柱凸点电镀时间约为2小时;3)无法可控的制造非圆柱形的微铜柱,比如锥形凸点。有研究表明,锥形微铜柱可以避免凸点之间因高度差异导致键合失效的现象,还可以由于机械嵌入作用,提高互连点之间的连接强度。
发明内容
本发明的目的在于提供一种过程简单、效率高、成本低的微铜柱的制造方法。
本发明提供了一种微铜柱的制造方法,它包括以下步骤:
步骤一、在绝缘衬底上完成多层RDL金属互连结构,在最后一层金属互连结构外对应导电通道位置处设置焊盘;
步骤二、制作微阳极,微阳极的直径与微铜柱的直径相匹配;
步骤三、制作微阳极夹具盘,将制作好的微阳极安装于微阳极夹具盘上对应焊盘的区域,并将各微阳极连通;
步骤四、将装有微阳极的微阳极夹具盘放置在芯片上方,使微阳极与焊盘一一对应,将微阳极夹具盘连接至电镀电源的正极,芯片连接至电镀电源的负极;
步骤五、采用局部电化学沉积方法,在焊盘上电镀沉积出需要的微铜柱。
在上述步骤五中局部电化学沉积方法的具体步骤为:
(1)将带有焊盘的芯片和装有微阳极的微阳极夹具置于电解液中,焊盘接阴极,微阳极接阳极,施加测试电势,微阳极下行;
(2)微阳极下行至与焊盘接触后关闭电源,控制微阳极上行至与焊盘之间距离为设定间距后施加电镀电势,微阳极与焊盘之间的局部空间内形成局部电场,在局部电场作用下微铜柱开始沉积生长;
(3)当微铜柱持续生长至碰触到微阳极底面时,电流突然增大,切断电流,控制微阳极再次上升一个设定间距的行程;
(4)循环重复(3),直至微铜柱的高度达到制造要求。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造