[发明专利]错误注入测试中检测芯片敏感位置的系统

说明书

本发明公开一种错误注入测试中检测芯片敏感位置的系统，通过在错误注入攻击测试过程中，采集待测芯片的状态信号、位置信号、漏电流信号等，根据其状态信号、位置信号、漏电流信号识别确定芯片上的敏感位置区域，预生成敏感位置信息，后续在确定的敏感位置区域范围内进一步测试，并在测试过程中，对敏感位置信息进行更新、细化。本发明的系统可准确定位出芯片的敏感位置，大幅提升测试工作效率，保证测试结果的准确性、有效性。

技术领域

本发明属于芯片信息安全技术领域，涉及一种错误注入测试中检测芯片敏感位置的系统。

背景技术

芯片中保存着用户个人信息、账户信息等关键信息，一旦被不法分子所攻击利用，将造成芯片中的信息泄露，如个人信息泄露、用户名及密码泄露、财产丢失等，给用户造成无法挽回的损失。

本申请人北京银联金卡科技有限公司致力于研究芯片的信息安全技术，通过各种测试手段测试芯片的安全性，及时为芯片的研发提供可靠的防御提示，为各大银行提供安全有效的芯片。为确保芯片的安全，防止不法分子针对本专利申请提出的错误注入测试中检测芯片敏感位置的系统及方法提出针对性的、进一步的攻击方法，本专利申请请求保密审查，不公开本专利申请的技术内容。

随着电子技术的飞速发展，芯片已被广泛的应用于银行交易管理、医疗保险、公共交通、移动通讯等领域，其为人们的生活提供了极大的便利，与此同时，芯片的信息安全也成为人们倍加关注的焦点。

现有的针对芯片的攻击方法已经不仅仅局限于攻击加密算法本身，而出现了很多针对加密算法以及实现加密算法的密码系统的攻击方法。错误注入攻击，指在密码芯片设备中通过在密码算法中引入错误，导致密码设备产生错误结果，对错误结果进行分析从而得到密钥。错误注入攻击的主要方式是通过对密码设备进行能量源干扰，使其无法正常工作。芯片作为重要的密码设备，需要对其进行全面有效的错误注入攻击测试，根据测试结果确定芯片存在的潜在漏洞，及时修补漏洞，实现有效的安全性防护。

在目前的错误注入攻击测试中发现，芯片运行特定代码(如加密运算)的过程中，并非攻击芯片的所有物理位置均可产生错误，而是与运算密切相关的模块，如存储器模块、算法模块、处理器模块等受到干扰才有可能产生错误。现有的测试方法，无法准确识别确定芯片上易受能量干扰而产生错误的敏感位置，测试效率较低。

发明内容

鉴于上述原因，本发明的目的在于提供一种错误注入测试中检测芯片敏感位置的系统，能够识别、确定芯片上易受能量干扰的敏感位置，提高测试效率，同时保证测试结果的准确性、有效性。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种错误注入测试中检测芯片敏感位置的系统，包括：上位机、设置于移动台上的待测芯片、漏电流采集模块、敏感位置分析模块、能量参数控制模块，

上位机，用于采集待测芯片的状态信号，采集移动台的位置信号，将该状态信号、位置信号传输至敏感位置分析模块；用于根据敏感位置分析模块输出的敏感位置控制信号控制移动台移动至预定位置；

漏电流采集模块，用于采集的待测芯片的漏电流信号，并对该漏电流信号进行处理后，传输至敏感位置分析模块；

敏感位置分析模块，用于根据接收的状态信号，动态调整干扰源的能量参数，根据调整后的能量参数，向能量参数控制模块输出用于控制能量参数的能量参数控制信号；用于根据接收的位置信号、处理后的漏电流信号，确定待测芯片的敏感位置，根据确定的敏感位置，向上位机输出用于控制移动台移动至预定位置的敏感位置控制信号；

能量参数控制模块，用于根据能量参数控制信号，控制干扰源输出的能量。

所述敏感位置分析模块确定敏感位置的方法是：

S1：对待测芯片上的N个测试位置进行测试，根据待测芯片的状态信号，动态调整能量参数，确定能量参数上限；