[发明专利]用于添加式地制造三维物体的设备用的照射装置

权利要求书

1.一种用于添加式地制造三维物体(3)的设备(2)用的照射装置(1)，所述设备通过依次逐层选择性地照射以及随之固化由能借助于能量束(5)固化的建造材料(6)组成的建造材料层来制造三维物体，其中，照射装置(1)包括：能量束产生装置(4)，其被设置用于产生能量束(5)；射束偏转装置(7)，其被设置用于将由能量束产生装置(4)产生的能量束(5)偏转到确定的入射地点上；以及通过至少一个光导元件形成的或者包括至少一个这种光导元件的光路(9)，

其特征在于，

设有位置检测装置(13)，所述位置检测装置被设置用于，借助于光学测量射束(15)光学地——尤其是以干涉测量方式——检测射束偏转装置(7)——尤其是相对于参考位置——的位置；以及

设有配属于位置检测装置(13)的测量射束产生装置(14)，所述测量射束产生装置被设置用于产生用于光学地检测射束偏转装置(7)的位置的光学测量射束(15)，其中，由测量射束产生装置(14)产生的光学测量射束(15)直接地能耦入或被耦入照射装置(1)的光路(9)中。

2.根据权利要求1所述的照射装置，其特征在于，能量束产生装置(4)和射束偏转装置(7)通过光路(9)光学地彼此耦合。

3.根据权利要求1或2所述的照射装置，其特征在于，位置检测装置(13)和测量射束产生装置(14)形成绝对干涉仪。

4.根据前述权利要求中任一项所述的照射装置，其特征在于，位置检测装置(13)被设置用于，产生对射束偏转装置(7)——尤其是相对于参考位置——的所检测到的位置进行描述的位置检测信息。

5.根据前述权利要求中任一项所述的照射装置，其特征在于，射束偏转装置(7)被设置用于，将光学测量射束(15)偏转到至少一个光学测量点(16a-16c)、尤其是三个光学测量点(16a-16c)上，尤其是偏转到形式为对光学测量射束(15)进行反射的光学元件——优选凹面镜——的光学测量点上；位置检测装置(13)被设置用于，根据由所述至少一个光学测量点(16a-16c)反射的、光学测量射束(15)的份额来检测射束偏转装置(7)的位置。

6.根据权利要求5所述的照射装置，其特征在于包括多个光学测量点(16a-16c)的光学测量点布置结构(16)，其中，属于光学测量点布置结构(16)的光学测量点(16a-16c)相对彼此以规定的空间排布来布置或形成。

7.根据权利要求6所述的照射装置，其特征在于，属于光学测量点布置结构(16)的光学测量点(16a-16c)布置或形成在共同的平面中，尤其是布置或形成在用于添加式地制造三维物体(3)的设备(2)的建造平面内，或者属于光学测量点布置结构(16)的光学测量点(16a-16c)中的至少两个光学测量点布置或形成在不同的平面中。

8.根据前述权利要求中任一项所述的照射装置，其特征在于检测装置(12)，所述检测装置被设置用于，检测能量束(5)的——尤其在待选择性地固化的或被选择性地固化的建造材料层的熔化区域中产生的——被反射的份额，其中，能量束(5)的被反射的份额经由照射装置(1)的光路(9)光学地能耦入或被耦入检测装置(12)中，其中，所述检测装置(12)被设置用于，基于能量束(5)的经由照射装置(1)的光路(9)光学地耦入检测装置(12)中的、被反射的份额来产生对待添加式地制造的或被添加式地制造的三维物体(3)的构件质量进行描述的构件质量信息。

9.根据权利要求8所述的照射装置，其特征在于，测量射束产生装置(14)被设置用于，将光学测量射束(15)耦入照射装置(1)的光路(9)的、位于能量束产生装置(4)与检测装置(12)之间的部段中，或者测量射束产生装置(14)被设置用于，将测量射束(15)耦入照射装置(1)的光路(9)的、被连接在检测装置(12)之前的部段中。