[发明专利]用于添加式地制造三维物体的设备用的照射装置在审
申请号: | 201710754493.1 | 申请日: | 2017-08-29 |
公开(公告)号: | CN108202479A | 公开(公告)日: | 2018-06-26 |
发明(设计)人: | J·斯坦贝格尔;T·德乐;C·迪勒;M-C·埃伯特 | 申请(专利权)人: | CL产权管理有限公司 |
主分类号: | B29C64/386 | 分类号: | B29C64/386;B29C64/268;B29C64/277;B29C64/153;B22F3/105;C04B35/622;G02B6/00;G02B6/02;B33Y50/00;B33Y30/00;B33Y10/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 金林辉;吴鹏 |
地址: | 德国利希*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射束 射束偏转装置 光学测量 照射装置 能量束 能量束产生装置 位置检测装置 产生装置 光导元件 建造材料 三维物体 光路 耦入 固化 测量 偏转 参考位置 方式检测 干涉测量 地能 入射 制造 照射 检测 | ||
一种用于通过依次逐层选择性地照射以及随之固化由能借助于能量束固化的建造材料组成的建造材料层来添加式地制造三维物体的设备用的照射装置(1),包括:能量束产生装置,用于产生能量束;射束偏转装置,用于将由能量束产生装置产生的能量束偏转到确定的入射地点上;通过至少一个光导元件形成的或者包括至少一个这种光导元件的光路;位置检测装置,用于借助于光学测量射束光学地、尤其是以干涉测量方式检测射束偏转装置尤其是相对于参考位置的位置;配属于位置检测装置的测量射束产生装置,用于产生用于光学地检测射束偏转装置的位置的光学测量射束,由测量射束产生装置产生的光学测量射束直接地能耦入或被耦入照射装置的光路中。
技术领域
本发明涉及一种用于添加式地制造三维物体的设备用的照射装置,所述设备通过依次逐层选择性地照射以及随之固化由能借助于能量束固化的建造材料组成的建造材料层来制造三维物体,其中,照射装置包括:能量束产生装置,其被设置用于产生能量束;射束偏转装置,其被设置用于将由能量束产生装置产生的能量束偏转到确定的入射地点上;以及通过至少一个光导元件形成的或者包括至少一个这种光导元件的光路,其中,能量束产生装置和射束偏转装置通过光路光学地彼此耦合。
背景技术
在三维物体的添加式制造的范围内,相应的照射装置的应用基本上是已知的。
对相应的添加式建造过程来说重要的是,精确地确定属于照射装置的、通常也称为扫描器装置的射束偏转装置相对于建造平面的位置。挑战在于,即使在实施添加式建造过程期间也要保证精确地确定射束偏转装置相对于建造平面的位置。在实施添加式建造过程期间所产生的热量尤其会导致不同的功能部件的一定程度的膨胀,这会导致射束偏转装置相对于建造平面的定位的变化。
为了实施必要时需要的、对射束偏转装置或者必要时对整个照射装置的定位的修正,需要精确地了解射束偏转装置的当前的定位。
发明内容
因此本发明的目的在于,尤其鉴于对射束偏转装置的定位的尽可能精确的检测,给出一种相应改进的照射装置。
该目的通过根据权利要求1所述的照射装置实现。从属于其的权利要求涉及照射装置的可能的实施方案。
此处描述的照射装置是用于添加式地制造三维物体——也就是说尤其是技术构件(Bauteil)或技术构件组——的设备的功能部件。相应的设备在下文中也称为添加式设备。像下文说明的,这种设备可以是用于实施选择性激光烧结过程的设备、也就是说是SLS设备,或者是用于实施选择性激光熔化过程的设备、也就是说SLM设备。
照射装置包括能量束产生装置或者为照射装置分配有这种能量束产生装置。该能量束产生装置或者属于该能量束产生装置的部件可以作为单独的、必要时模块化的、能与照射装置的其它组件/结构组(Baugruppe)连接的组件存在。能量束产生装置被设置用于产生能量束、尤其是激光束,为此能量束产生装置包括相应的能量束产生元件或激光束产生元件,例如形式为激光发生器。
在实施添加式建造过程的框架内,能量束用于选择性地照射以及因此选择性地固化由相应地可固化的、典型地粉末状的建造材料组成的单个的建造材料层。
照射装置还包括如上所述的、典型地也称为扫描器装置的射束偏转装置,或者为照射装置分配有这种射束偏转装置。该射束偏转装置或者属于该射束偏转装置的部件可以作为单独的、必要时模块化的、能与照射装置的其它组件连接的组件存在。射束偏转装置被设置用于将由能量束产生装置产生的能量束偏转到添加式设备的建造平面中的确定的入射地点上,为此射束偏转装置包括合适的、尤其是能以至少一个运动自由度运动地被支承的、例如形式为射束偏转镜的射束偏转元件。射束偏转元件典型地布置或形成在射束偏转装置的、典型地也称为扫描头的结构元件上或中。
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