[发明专利]自动测试样式生成的电路建模方法以及自动测试样式生成电路

权利要求书

1.一种自动测试样式生成的电路建模方法，该电路建模方法包含：

接收一电路的模拟电路表示；以及

通过用开关替换该模拟电路表示的模拟电路元件并将该电路中的错误建模为开关，产生该电路的开关级表示。

2.如权利要求1所述自动测试样式生成的的电路建模方法，其特征在于，该模拟电路表示包含一网表，其用电阻与电容表示该电路中的寄生。

3.如权利要求2所述自动测试样式生成的的电路建模方法，其特征在于，用开关替换该模拟电路表示的模拟电路元件的步骤包含：

用关闭的开关替换至少一电阻及用一断开的开关替换至少一电容。

4.如权利要求3所述的自动测试样式生成的电路建模方法，其特征在于，将该电路中的错误建模为开关的步骤包含：

对短路电路建模为关闭的开关而对断开电路建模为断开的开关。

5.如权利要求1所述的自动测试样式生成的电路建模方法，其特征在于，将该电路中的错误建模为开关的步骤包含：对短路电路建模为关闭的开关而对断开电路建模为断开的开关。

6.如权利要求1所述的自动测试样式生成的电路建模方法，其特征在于，该自动测试样式生成是用该电路的该开关级表示来执行的。

7.如权利要求1所述的自动测试样式生成的电路建模方法，其特征在于，该电路包含来自数字电路单元库的数字电路单元。

8.一种非暂态计算机可读存储介质，其上包含储存的指令，该些指令在由处理器运行时，执行自动测试样式生成的电路建模方法，该电路建模方法包含：

接收一电路的模拟电路表示；以及

通过用开关替换该模拟电路表示的模拟电路元件并将该电路中的错误建模为开关，产生该电路的开关级表示。

9.如权利要求8所述的非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，该模拟电路表示包含一网表，其用电阻与电容表示该电路中的寄生。

10.如权利要求9所述的非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，用开关替换该模拟电路表示的模拟电路元件的步骤包含：

用关闭开关替换至少一电阻及用一开启开关替换至少一电容。

11.如权利要求10所述的非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，将该电路中的错误建模为开关的步骤包含：

对短路电路建模为关闭的开关而对断开电路建模为断开的开关。

12.如权利要求8所述的非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，将该电路中的错误建模为开关的步骤包含：

对短路电路建模为关闭的开关而对断开电路建模为断开的开关。

13.如权利要求8所述的非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，自动测试样式生成是用该电路的该开关级表示来执行。

14.一种自动测试样式生成电路，包含：

处理器；以及

非暂态计算机可读存储介质，其上包含储存的指令，该些指令在由处理器运行时，执行自动测试样式生成的电路建模方法，该电路建模方法包含：

接收一电路的模拟电路表示；以及

通过用开关替换该模拟电路表示的模拟电路元件并将该电路中的错误建模为开关，产生该电路的开关级表示。

15.如权利要求14所述的自动测试样式生成电路，其特征在于，该模拟电路表示包含一网表，其用电阻与电容表示该电路中的寄生。

16.如权利要求15所述的自动测试样式生成电路，其特征在于，用开关替换该模拟电路表示的模拟电路元件的步骤包含：

用关闭的开关替换至少一电阻及用一断开的开关替换至少一电容。

17.如权利要求16所述的自动测试样式生成电路，其特征在于，将该电路中的错误建模为开关的步骤包含：

对短路电路建模为关闭的开关而对断开的电路建模为断开的开关。

18.如权利要求14所述的自动测试样式生成电路，其特征在于，将该电路中的错误建模为开关的步骤包含：

对短路电路建模为关闭的开关而对断开的电路建模为断开的开关。

19.如权利要求14所述的自动测试样式生成电路，其特征在于，自动测试样式生成是用该电路的该开关级表示来执行。

20.如权利要求14所述的自动测试样式生成电路，其特征在于，该电路包含来自数字电路单元库的数字电路单元。