[发明专利]一种冲击测试仪

权利要求书

1.一种冲击测试仪，包括脉宽抑制电路和峰值抑制电路，其特征在于，所述脉宽抑制电路与所述峰值抑制电路连接，所述峰值抑制电路包括脉宽定义电路、次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路；

所述脉宽定义电路连接次波抑制电路，所述次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路顺次连接，所述峰值保持电路分别连接电压表和数码管数字显示器；

所述脉宽抑制电路包括反向放大器N7A、反向放大器N7B、比较器N8、双D触发器N9B、单稳态触发器N11B；

所述反向放大器N7A的引脚二分别连接电阻R28和电阻R29，所述反向放大器N7A的引脚一和引脚二之间设有电阻R29，所述反向放大器N7A的引脚一连接所述反向放大器N7B的引脚六，所述反向放大器N7A的引脚三接地；

所述N7A的引脚一和所述N7B的引脚六之间设有电阻R30，所述反向放大器N7B的引脚六由电阻R32a与峰值保持电路V2P相连，所述反向放大器N7B的引脚五接地，所述反向放大器N7B的引脚七连接反向放大器N7B的引脚六，所述反向放大器N7B的引脚七和反向放大器N7B的引脚六之间设有电阻R31；

所述比较器N8的引脚三连接反向放大器N7B的引脚七，所述比较器N8的引脚三和比较器N7B的引脚七之间设有电阻R32b，所述比较器N8的引脚三和比较器N8的引脚六之间设有电阻R33，所述比较器N8的引脚二分别连接电阻R35和电阻R34，所述电阻R35的一端连接比较器N8的引脚二，所述电阻R35的另一端接地，所述比较器R34的一端连接比较器N8的引脚二，所述比较器R34的另一端接正电源；

所述比较器N8的引脚六连接双D触发器N9B的引脚十一，所述比较器N8的引脚六和双D触发器N9B的引脚十一之间设有电阻R36，所述触发器N9B的引脚十一和电阻R36之间设有二极管D10，所述二极管D10的阴极接双D触发器N9B的引脚十一，所述二极管D10的阳极接地；

所述双D触发器N9B的引脚十二连接双D触发器N9B的引脚十，所述双D触发器的引脚九连接单稳态触发器N11B的引脚十一；

所述单稳态触发器N11B的引脚十五和引脚十二分别接地，所述触发器的引脚十五和引脚十四之间设有电容C6，所述触发器N11B的引脚十四连接电阻R39后连接正电源，所述触发器N11B的引脚十三连接正电源，所述触发器N11B的引脚九接数码管数字显示器。

2.根据权利要求1所述的一种冲击测试仪，其特征在于，所述脉宽定义电路包括反向放大器N6A和比较器N6B，反向放大器N6A的引脚二上设有电阻R23，反向放大器N6A的引脚二连接反向放大器N6A的引脚一，反向放大器N6A的引脚三接地，反向放大器N6A的引脚二和反向放大器N6A的引脚一之间设有电阻R24，反向放大器N6A的引脚一连接反向放大器N6B的引脚六，反向放大器N6A的引脚一和比较器N6B的引脚六之间设有电阻R25；

比较器N6B的引脚六分别连接电阻R27和电阻R26，所述比较器N6B的引脚五接地，电阻R27连接电位器RS2，所述电位器RS2的一端接正电源，所述电位器RS2的另一端接负电源，所述电阻R26接峰值保持电路V2P；

输入信号VIN经由电阻R23与所述反向放大器N6A的引脚二相连，峰值保持电路V2P经过电阻R26所述比较器N6B的引脚六相连，这部分电路的输出为VIN-V2P/10；

所述比较器N6B的引脚七分别连接双D触发器N9B的引脚十三和单稳态触发器N11A的引脚四。