[发明专利]一种冲击测试仪有效

专利信息
申请号: 201710761889.9 申请日: 2017-08-30
公开(公告)号: CN107505113B 公开(公告)日: 2020-03-20
发明(设计)人: 杜寿余 申请(专利权)人: 扬州昀昇电子科技有限公司
主分类号: G01M7/08 分类号: G01M7/08;H03K5/24
代理公司: 扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙) 32283 代理人: 周全
地址: 225003 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 冲击 测试仪
【说明书】:

一种冲击测试仪。涉及一种仪器仪表,尤其涉及一种冲击测试仪。提供了一种数值显示稳定精确的冲击测试仪。包括脉宽抑制电路和峰值抑制电路,所述脉宽抑制电路与所述峰值抑制电路连接,所述峰值抑制电路包括脉宽定义电路、次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路;所述脉宽定义电路连接次波抑制电路,所述次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路顺次连接,所述峰值保持电路分别连接电压表和数码管数字显示器。本发明中在采用了双峰值保持电路和阈值比较电路后,只有达到峰值的一定比例时,脉冲峰值和脉宽数据才能得到更新,有效地抑制了次波,脉冲峰值和脉宽数据稳定、精确,并且主波的峰值和脉宽能得到自动更新。

技术领域

本发明涉及一种仪器仪表,尤其涉及一种冲击测试仪。

背景技术

许多设备在出厂之前需要进行冲击测试,也就是将产品放置在冲击台上进行冲击试验,并记录冲击试验过程中的相关参数,原来的冲击测量仪在测量脉冲的峰值、宽度时,没有采用双峰值保持电路,也没有采用阈值比较电路,不能抑制次波,从而脉冲峰值显示和脉宽显示跳动,不稳定,不精确。

国家知识产权局2016-1-27公开一项发明专利申请(CN 105277305 A,定量测量低冲击功的冲击试验装置)公开了包括机架,冲击块体,释放装置和测速系统;所述机架包括导轨,安放试样的支撑卡槽,所述支撑卡槽位于机架正中间;所述冲击块体设置在导轨上并能滑动;所述释放装置包含电磁铁吸盘;所述测速系统为两个对称放置的激光测速仪,高度低于试样支撑卡槽,与冲击块体凹槽平齐。它主要解决了此类仪器脆性材料冲击功不易测,造价高等问题,从而提供了一种廉价的简易、实用试验装置。它采用自由落体冲击,测速仪精确测速计算冲击功,并以数百元的造价优势即可替代造价数万元一台传统的落球或摆锤冲击试验机。并未针对冲击波的显示电路做出改进,在测量过程中仍然存在显示不稳定不精确的问题。

发明内容

本发明针对以上问题,提供了一种数值显示稳定精确的冲击测试仪。

本发明的技术方案是:包括脉宽抑制电路和峰值抑制电路,所述脉宽抑制电路与所述峰值抑制电路连接,所述峰值抑制电路包括脉宽定义电路、次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路;

所述脉宽定义电路连接次波抑制电路,所述次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路顺次连接,所述峰值保持电路分别连接电压表和数码管数字显示器。

所述脉宽抑制电路包括反向放大器N7A、反向放大器N7B、比较器N8、双D触发器N9B、单稳态触发器N11B;

所述反向放大器N7A的引脚二分别连接电阻R28和电阻R29,所述反向放大器N7A的引脚一和引脚二之间设有电阻R29,所述反向放大器N7A的引脚一连接所述反向放大器N7B的引脚六,所述反向放大器N7A的引脚三接地;

所述N7A的引脚一和所述N7B的引脚六之间设有电阻R30,所述反向放大器N7B的引脚六由电阻R32a与峰值保持电路V2P相连,所述反向放大器N7B的引脚五接地,所述反向放大器N7B的引脚七连接反向放大器N7B的引脚六,所述反向放大器N7B的引脚七和反向放大器N7B的引脚六之间设有电阻R31;

所述比较器N8的引脚三连接反向放大器N7B的引脚七,所述比较器N8的引脚三和比较器N7B的引脚七之间设有电阻R32b,所述比较器N8的引脚三和比较器N8的引脚六之间设有电阻R33,所述比较器N8的引脚二分别连接电阻R35和电阻R34,所述电阻R35的一端连接比较器N8的引脚二,所述电阻R35的另一端接地,所述比较器R34的一端连接比较器N8的引脚二,所述比较器R34的另一端接正电源;

所述比较器N8的引脚六连接双D触发器N9B的引脚十一,所述比较器N8的引脚六和双D触发器N9B的引脚十一之间设有电阻R36,所述触发器N9B的引脚十一和电阻R36之间设有二极管D10,所述二极管D10的阴极接双D触发器N9B的引脚十一,所述二极管D10的阳极接地;

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