[发明专利]一种光学参数测量装置及其测量方法

权利要求书

1.一种光学参数测量装置，其特征在于，包括：分光组件、第一光探测器、第二光探测器、跨阻放大电路、积分电路和控制单元；其中，

所述分光组件，用于将待测试显示面板的显示光线至少分为第一测试光线和第二测试光线，所述第一测试光线和第二测试光线相互平行；

所述第一光探测器，用于将所述第一测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述跨阻放大电路；

所述跨阻放大电路，用于将输入的所述第一测试光线的光电流进行电流电压转换且以设定比例放大后输出对应的电压值；

所述第二光探测器，用于将所述第二测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述积分电路；

所述积分电路，用于在所述控制单元的控制下，以设定的积分时间对所述第二测试光线的光电流进行积分后输出对应的电压值；

所述控制单元，用于根据所述跨阻放大电路输出的多个电压值以及预先设定的电压和积分时间的关系模型，确定所述积分电路所需的积分时间；以及控制所述积分电路的积分时间，并根据所述积分电路在所述积分时间内输出的电压值，确定所述待测试显示面板的显示亮度；

所述控制单元，还用于确定所述跨阻放大电路输出的最大电压值和最小电压值的时间差；控制所述积分电路以所述时间差进行输出，并根据所述积分电路输出的最大亮度对应的电压值和最小亮度对应的电压值，确定所述待测试显示面板的闪烁值。

2.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述分光组件为分光板、棱镜、光栅或光纤。

3.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述分光组件分成的所述第一测试光线的光线强度小于所述第二测试光线的光线强度。

4.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述分光组件为分光板、棱镜或光栅；

所述光学参数测量装置，还包括：设置于所述分光组件和所述第二光探测器之间的传递路径上的反射板。

5.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，还包括：设置于所述分光组件和所述第一光探测器之间的传递路径上的第一滤镜。

6.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，还包括：设置于所述分光组件和所述第二光探测器之间的传递路径上的第二滤镜。

7.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述第一光探测器和所述第二光探测器为光电二极管。

8.如权利要求7所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述光电二极管为硅光电池。

9.如权利要求1-8任一项所述的光学参数测量装置，其特征在于，还包括：模数转换单元，用于将所述跨阻放大电路输出的电压值和所述积分电路输出的电压值进行模拟信号到数字信号的转换后输出至所述控制单元。

10.一种采用如权利要求1-9任一项所述的光学参数测量装置的测量方法，其特征在于，包括：

分光组件将待测试显示面板的显示光线至少分为第一测试光线和第二测试光线；

第一光探测器将所述第一测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述跨阻放大电路；

所述跨阻放大电路将输入的所述第一测试光线的光电流进行电流电压转换且以设定比例放大后输出对应的电压值；

所述控制单元根据所述跨阻放大电路输出的多个电压值以及预先设定的电压和积分时间的关系模型，确定所述积分电路所需的积分时间；

第二光探测器将所述第二测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述积分电路；

所述控制单元控制所述积分电路以设定的积分时间对所述第二测试光线的光电流进行积分，并根据所述积分电路在所述积分时间内输出的电压值，确定所述待测试显示面板的显示亮度。

11.如权利要求10所述的测量方法，其特征在于，还包括：

所述控制单元确定所述跨阻放大电路输出的最大电压值和最小电压值的时间差；

所述控制单元控制所述积分电路以所述时间差进行输出，并根据所述积分电路输出的最大亮度对应的电压值和最小亮度对应的电压值，确定所述待测试显示面板的闪烁值。