[发明专利]一种光学参数测量装置及其测量方法

说明书

本发明公开了一种光学参数测量装置及其测量方法，首先采用分光组件将待测试显示面板的显示光线至少分为两束测试光线，利用对应于第一光探测器的跨阻放大电路对一束测试光线进行电压值测量，之后通过控制单元根据跨阻放大电路输出的多个电压值以及预先设定的电压和积分时间的关系模型确定积分时间，接着利用对应于第二光探测器的积分电路采用确定出的积分时间对另一束测试光线直接进行准确测量，最后控制单元根据积分电路在积分时间内输出的电压值，确定待测试显示面板的显示亮度。由于采用跨阻放大电路可以实时获取测试光线的光线强度以计算出所需的积分时间，因此可省去耗时很长的积分时间调节过程，以提高对待测试显示面板的测量速度。

技术领域

本发明涉及光学器件测量技术领域，尤其涉及一种光学参数测量装置及其测量方法。

背景技术

目前，使用光探测器对目标光源进行积分测量可以达到计量光强度的目的，但是如果目标光源的光强度在一定范围内变化，例如在对待测试显示面板进行诸如亮度的光学参数测量时，就需要使用微控制单元(MCU，Micro-controller Unit)根据积分结果来调节积分时间。

具体地，在显示屏的亮度测量方案中，最普遍的方法是使用硅光电池对光电流进行积分，根据光电流的强弱来进行积分时间调节，一般都是在不同积分时间下采样多次后通过计算来取得合理的积分时间，需要耗费很长的调节时间，才能达到nA级光电流的测量。

因此，目前基于光探测器的亮度测量方式具有测量速度较低的缺点。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种光学参数测量装置及其测量方法，用以解决现有的测量方式测量速度较低的问题。

因此，本发明实施例提供了一种光学参数测量装置，包括：分光组件、第一光探测器、第二光探测器、跨阻放大电路、积分电路和控制单元；其中，

所述分光组件，用于将待测试显示面板的显示光线至少分为第一测试光线和第二测试光线；

所述第一光探测器，用于将所述第一测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述跨阻放大电路；

所述跨阻放大电路，用于将输入的所述第一测试光线的光电流进行电流电压转换且以设定比例放大后输出对应的电压值；

所述第二光探测器，用于将所述第二测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述积分电路；

所述积分电路，用于在所述控制单元的控制下，以设定的积分时间对所述第二测试光线的光电流进行积分后输出对应的电压值；

所述控制单元，用于根据所述跨阻放大电路输出的电压值确定所述积分电路所需的积分时间；以及控制所述积分电路的积分时间，并根据所述积分电路在所述积分时间内累积输出的电压值，确定所述待测试显示面板的显示亮度。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述光学参数测量装置中，所述控制单元，具体用于根据所述跨阻放大电路输出的多个电压值以及预先设定的电压和积分时间的关系模型，确定所述积分电路所需的积分时间。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述光学参数测量装置中，所述控制单元，还用于确定所述跨阻放大电路输出的最大电压值和最小电压值的时间差；控制所述积分电路以所述时间差进行输出，并根据所述积分电路输出的最大亮度对应的电压值和最小亮度对应的电压值，确定所述待测试显示面板的闪烁值。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述光学参数测量装置中，所述分光组件为分光板、棱镜、光栅或光纤。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述光学参数测量装置中，所述分光组件分成的所述第一测试光线的光线强度小于所述第二测试光线的光线强度。