[发明专利]线型双能X射线传感器及线型双能X射线检测系统有效

专利信息
申请号: 201710796582.2 申请日: 2017-09-06
公开(公告)号: CN107478664B 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 朱翀煜;王锋;金利波;方志强 申请(专利权)人: 奕瑞影像科技(太仓)有限公司
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;G01N23/087
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 215434 江苏省苏州市太*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 线型 射线 传感器 检测 系统
【说明书】:

发明提供一种线型双能X射线传感器及线型双能X射线检测系统,线型双能X射线传感器包括:PCB板,正面设有第一连接结构;线型二极管阵列面板,经由背面贴置于PCB板的正面,线型二极管阵列面板的正面设有第二连接结构,第二连接结构与第一连接结构电连接;高能像素阵列结构,位于线型二极管阵列面板的正面,且与第二连接结构电连接;低能像素阵列结构,位于线型二极管阵列面板的正面,且与高能像素阵列结构具有间距,低能像素阵列结构与第二连接结构电连接。本发明相较于现有的垂直设置的线型双能X射线传感器具有结构简单、体积小及成本低等优点。

技术领域

本发明属于X射线成像技术领域,特别是涉及一种线型双能X射线传感器及线型双能X射线检测系统。

背景技术

线型双能X射线检测设备是多种安检、工业检验设备的核心部件,而线型双能X射线传感器是线型双能X射线检测设备的最关键组成部分。在实际的应用中,通常需要对被探测目标的材质、密度等进行判断与分类,因此通常采用双能X射线检测。

现有的线型双能X射线传感器的结构如图1所示,所示线型双能X射线传感器包括:第一PCB板(印刷电路板)101,所述第一PCB板的正面设有第一连接结构102及第二连接结构103;第一LDA面板(线型二极管阵列面板)104,贴合于所述第一PCB板101的正面;高能像素阵列结构105,位于所述第一LDA面板104的正面,所述高能像素阵列结构105包括高能像素1051及位于所述高能像素1051上表面的第一闪烁体1052;第三连接结构106,位于所述第一LDA面板104的正面,所述高能像素1051与所述第三连接结构106电连接;第一FPC板(柔性电路板),与所述第三连接结构106及所述第一连接结构102电连接;第二PCB板108,位于所述第一LDA面板104的正上方;第二LDA面板109,贴合于所述第二PCB板108的正面;低能像素阵列结构110,位于所述第二LDA面板109的正面,所述低能像素阵列结构110包括低能像素1101及覆盖于所述低能像素1101上表面的第二闪烁体1102;第四连接结构111,位于所述第二LDA面板109的正面,所述低能像素1101与所述第四连接结构111电连接;第二FPC板112,与所述第四连接结构111及所述第二连接结构103电连接;铜箔113,位于所述第二PCB板108的背面。

然而,现有的线型双能X射线传感器的结构较为复杂,所述第一LDA面板104与所述第二LDA面板109两个LDA面板需要贴合在各自的PCB板上,还需要各自独立的FPC与所述第一PCB板101上的两个连接结构电连接。现有的线型双能X射线传感器具有如下缺点:1.结构复杂、设计难度大及成本高;2.所述第一LDA面板104与所述第二LDA面板109上下对位精度要求高,若有较大错位,未经过所述低能像素阵列结构110的低能X射线会直接被所述位于下方的所述高能像素阵列105接收,从而影响图像质量;整个结构的尺寸较大。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种线型双能X射线传感器及线型双能X射线检测系统,用于解决现有技术中的线型双能X射线传感器存在的结构复杂、设计难度大、尺寸大、成本高及上下LDA面板对位精度要求高,容易影响图像质量的问题。

为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种线型双能X射线传感器,所述线型双能X射线传感器包括:

PCB板,正面设有第一连接结构;

线型二极管阵列面板,经由背面贴置于所述PCB板的正面,所述线型二极管阵列面板的正面设有第二连接结构,所述第二连接结构与所述第一连接结构电连接;

高能像素阵列结构,位于所述线型二极管阵列面板的正面,且与所述第二连接结构电连接,用于接收高能X射线;

低能像素阵列结构,位于所述线型二极管阵列面板的正面,且与所述高能像素阵列结构具有间距,所述低能像素阵列结构与所述第二连接结构电连接,用于接收低能X射线。

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