[发明专利]一种无规则缺陷图片模式识别与匹配方法及系统有效
申请号: | 201710807597.4 | 申请日: | 2017-09-08 |
公开(公告)号: | CN109493311B | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 丁文静;陈玉柱;刘英林 | 申请(专利权)人: | 上海宝信软件股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06V10/75;G06K9/62 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭国中 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 规则 缺陷 图片 模式识别 匹配 方法 系统 | ||
1.一种无规则缺陷图片模式识别与匹配方法,其特征在于,包括:
缺陷分布选取步骤:实时获取钢铁表面缺陷图像并选取缺陷分布;
识别匹配步骤:识别与匹配所述缺陷分布选取步骤得到的缺陷分布;
显示分析步骤:显示匹配结果并进行关联分析;
所述缺陷分布选取步骤包括:
表面缺陷图像获取子步骤:根据选取工序、机组和时间范围,返回表面缺陷图像列表,实时获取表面缺陷图像或获取数据绘制表面缺陷图像;
缺陷分布选取子步骤:实时响应选取缺陷分布的鼠标选取操作,获取选取的缺陷分布的部位并绘图显示;
存储子步骤:将选取的缺陷分布存储至图片形态库;
所述识别匹配步骤包括:
识别匹配定义子步骤:根据使用场景及需求,确定匹配的范围和阈值,定义模式识别匹配规则;
识别匹配执行子步骤:根据选取的缺陷分布及确定的模式识别匹配规则,调用识别与匹配功能进行匹配,返回匹配结果列表,并读取对应的图像数据;
所述匹配的范围包括工序、机组和时间范围;所述阈值包括相似度;所述匹配结果列表包括图像编号、对应相似区域坐标及相似度;
所述显示分析步骤包括:
匹配结果显示子步骤:将所述识别匹配步骤中结果按照相似度降序排列,显示相似图像并标注匹配区域;
匹配结果分析子步骤:关联选取的缺陷分布和匹配结果,查看匹配区域,对相同位置按上下工序进行对比,追踪产生缺陷的工序定位,分析缺陷产生的原因。
2.一种无规则缺陷图片模式识别与匹配系统,其特征在于,包括:
缺陷分布选取模块:实时获取钢铁表面缺陷图像并选取缺陷分布;
识别匹配模块:识别与匹配所述缺陷分布选取模块得到的缺陷分布;
显示分析模块:显示匹配结果并进行关联分析;
所述缺陷分布选取模块包括:
表面缺陷图像获取子模块:根据选取工序、机组和时间范围,返回表面缺陷图像列表,实时获取表面缺陷图像或获取数据绘制表面缺陷图像;
缺陷分布选取子模块:实时响应选取缺陷分布的鼠标选取操作,获取选取的缺陷分布的部位并绘图显示;
存储子模块:将选取的缺陷分布存储至图片形态库;
所述识别匹配模块包括:
识别匹配定义子模块:根据使用场景及需求,确定匹配的范围和阈值,定义模式识别匹配规则;
识别匹配执行子模块:根据选取的缺陷分布及确定的模式识别匹配规则,调用识别与匹配功能进行匹配,返回匹配结果列表,并读取对应的图像数据;
所述匹配的范围包括工序、机组和时间范围;所述阈值包括相似度;所述匹配结果列表包括图像编号、对应相似区域坐标及相似度;
所述显示分析模块包括:
匹配结果显示子模块:将所述识别匹配模块中结果按照相似度降序排列,显示相似图像并标注匹配区域;
匹配结果分析子模块:关联选取的缺陷分布和匹配结果,查看匹配区域,对相同位置按上下工序进行对比,追踪产生缺陷的工序定位,分析缺陷产生的原因。
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