[发明专利]一种无规则缺陷图片模式识别与匹配方法及系统有效

专利信息
申请号: 201710807597.4 申请日: 2017-09-08
公开(公告)号: CN109493311B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 丁文静;陈玉柱;刘英林 申请(专利权)人: 上海宝信软件股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/75;G06K9/62
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 规则 缺陷 图片 模式识别 匹配 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种无规则缺陷图片模式识别与匹配方法,其特征在于,包括:

缺陷分布选取步骤:实时获取钢铁表面缺陷图像并选取缺陷分布;

识别匹配步骤:识别与匹配所述缺陷分布选取步骤得到的缺陷分布;

显示分析步骤:显示匹配结果并进行关联分析;

所述缺陷分布选取步骤包括:

表面缺陷图像获取子步骤:根据选取工序、机组和时间范围,返回表面缺陷图像列表,实时获取表面缺陷图像或获取数据绘制表面缺陷图像;

缺陷分布选取子步骤:实时响应选取缺陷分布的鼠标选取操作,获取选取的缺陷分布的部位并绘图显示;

存储子步骤:将选取的缺陷分布存储至图片形态库;

所述识别匹配步骤包括:

识别匹配定义子步骤:根据使用场景及需求,确定匹配的范围和阈值,定义模式识别匹配规则;

识别匹配执行子步骤:根据选取的缺陷分布及确定的模式识别匹配规则,调用识别与匹配功能进行匹配,返回匹配结果列表,并读取对应的图像数据;

所述匹配的范围包括工序、机组和时间范围;所述阈值包括相似度;所述匹配结果列表包括图像编号、对应相似区域坐标及相似度;

所述显示分析步骤包括:

匹配结果显示子步骤:将所述识别匹配步骤中结果按照相似度降序排列,显示相似图像并标注匹配区域;

匹配结果分析子步骤:关联选取的缺陷分布和匹配结果,查看匹配区域,对相同位置按上下工序进行对比,追踪产生缺陷的工序定位,分析缺陷产生的原因。

2.一种无规则缺陷图片模式识别与匹配系统,其特征在于,包括:

缺陷分布选取模块:实时获取钢铁表面缺陷图像并选取缺陷分布;

识别匹配模块:识别与匹配所述缺陷分布选取模块得到的缺陷分布;

显示分析模块:显示匹配结果并进行关联分析;

所述缺陷分布选取模块包括:

表面缺陷图像获取子模块:根据选取工序、机组和时间范围,返回表面缺陷图像列表,实时获取表面缺陷图像或获取数据绘制表面缺陷图像;

缺陷分布选取子模块:实时响应选取缺陷分布的鼠标选取操作,获取选取的缺陷分布的部位并绘图显示;

存储子模块:将选取的缺陷分布存储至图片形态库;

所述识别匹配模块包括:

识别匹配定义子模块:根据使用场景及需求,确定匹配的范围和阈值,定义模式识别匹配规则;

识别匹配执行子模块:根据选取的缺陷分布及确定的模式识别匹配规则,调用识别与匹配功能进行匹配,返回匹配结果列表,并读取对应的图像数据;

所述匹配的范围包括工序、机组和时间范围;所述阈值包括相似度;所述匹配结果列表包括图像编号、对应相似区域坐标及相似度;

所述显示分析模块包括:

匹配结果显示子模块:将所述识别匹配模块中结果按照相似度降序排列,显示相似图像并标注匹配区域;

匹配结果分析子模块:关联选取的缺陷分布和匹配结果,查看匹配区域,对相同位置按上下工序进行对比,追踪产生缺陷的工序定位,分析缺陷产生的原因。

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