[发明专利]软件缺陷描述关键要素的抽取方法有效
申请号: | 201710807651.5 | 申请日: | 2017-09-08 |
公开(公告)号: | CN107608883B | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 李凤;李璐;肖莉 | 申请(专利权)人: | 中国农业银行股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100005 北京市东*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 软件 缺陷 描述 关键 要素 抽取 方法 | ||
1.一种软件缺陷描述关键要素的抽取方法,包括:
步骤S1,分解原始缺陷数据,提取缺陷要素;
步骤S2,根据提取的所述缺陷要素建立要素矩阵,并根据所述要素矩阵分解描述原始缺陷数据;
步骤S3,比较原始缺陷数据与利用要素矩阵描述的缺陷数据之间的差异;
步骤S4,基于所述差异,优化要素矩阵模型,筛选缺陷要素,确定软件缺陷描述关键要素;
其中,在所述步骤S1之前,还包括:将n条原始缺陷描述数据转换为矩阵形式,得到矩阵b:
式中,bi,1表示第i条原始缺陷描述数据;i=1,2,3……n;
所述步骤S1包括:
步骤S11,从矩阵b中取出b1,1数据,按照自然语言描述对其进行分解,提取若干缺陷要素;
步骤S12,对所述若干缺陷要素逐一进行判断:若要素不存在,则新建这一要素;若存在,则将这一要素的命中次数加1;
步骤S13,重复步骤S11、S12,直至遍历到矩阵b中的bn,1数据,提取所有缺陷要素x1,1,x2,1,x3,1......,xm,1,其中m为提取到的缺陷要素的总数;并统计各要素的命中次数;
所述步骤S2包括:
步骤S21,将提取到的所有缺陷要素x1,1,x2,1,x3,1......,xm,1组成矩阵,得到要素矩阵x,矩阵x的维度为dim(x),dim(x)=m;
步骤S22,将由原始缺陷数据组成的矩阵b中的每条数据bi,1根据矩阵x中的要素进行分解描述,形成矩阵A:
在所述步骤S3中,通过能量函数确定原始缺陷数据与利用要素矩阵描述的缺陷数据之间的差异,所述能量函数为:E(x)=||Ax-b||+C·dim(x);式中,C为矩阵x中的要素xi,1在n条缺陷数据中使用次数的临界值;
其表示利用要素矩阵描述的缺陷数据Ax与原始缺陷数据b的差异,若利用要素矩阵描述的缺陷数据Ax与原始缺陷数据bi,1存在差异时,则ri,1=1,若不存在差异,则ri,1=0;||Ax-b||表示所有ri,j绝对值相加的和。
2.根据权利要求1所述的软件缺陷描述关键要素的抽取方法,还包括步骤S5,筛选之后,分析缺陷要素之间相关性,确定软件缺陷描述关键要素。
3.根据权利要求2所述的软件缺陷描述关键要素的抽取方法,其中,所述步骤S4包括:
步骤S41,从要素矩阵x中选取要素xi,1,i取值从1开始;
步骤S42,若xi,1要素的命中次数ti小于C,则剔除要素xi,1,将dim(x)值减1,并计算E(x)=||Ax-b||+C·dim(x)得Ei(x),然后将i值加1,返回步骤S41;若ti大于C,直接将i值加1,返回步骤S41;
步骤S43,重复步骤S41、S42,至i取值为m终止,遍历矩阵x所有要素直至xm,1;
步骤S44,比较所有Ei(x)的取值,确定min(E(x))值及使E(x)最小的要素集合;
步骤S45,输出矩阵x中使E(x)最小的要素集合。
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