[发明专利]软件缺陷描述关键要素的抽取方法

说明书

本公开提供了一种软件缺陷描述关键要素的抽取方法，包括以下步骤：S1，分解原始缺陷数据，提取缺陷要素；S2，根据提取的所述缺陷要素，建立要素矩阵，并根据所述要素矩阵分解描述原始缺陷数据；S3，比较原始缺陷数据与利用要素矩阵描述的缺陷数据之间的差异；S4，基于所述差异，优化要素矩阵模型，筛选缺陷要素，确定软件缺陷描述关键要素。本公开还提供了一种机器可读的记录介质。本公开软件缺陷描述关键要素的抽取方法，建立了相对规范的描述方法，避免了现有的缺陷描述方法依靠测试人员经验，主观性强，描述不完整、模糊不清或难以理解、描述包含多类信息、未突出重点问题等缺陷。

技术领域

本公开涉及软件缺陷技术领域，具体涉及一种软件缺陷描述关键要素的抽取方法。

背景技术

软件缺陷描述是软件缺陷的重要属性，是定位软件系统风险的重要依据。然而，现有的缺陷描述方法主要依靠测试人员经验，主观性较强，并存在描述不完整、模糊不清或难以理解、描述包含多类信息、未突出重点问题等缺点。因此，如何实现软件缺陷描述的统一规范是目前软件缺陷领域亟需解决的问题。

发明内容

(一)要解决的技术问题

鉴于上述技术问题，本公开提供了一种软件缺陷描述关键要素的抽取方法，建立相对规范的描述方法，避免了现有的缺陷描述方法依靠测试人员经验，主观性强，描述不完整、模糊不清或难以理解、描述包含多类信息、未突出重点问题等缺陷。

(二)技术方案

根据本公开的一个方面，提供了一种软件缺陷描述关键要素的抽取方法，包括以下步骤：S1，分解原始缺陷数据，提取缺陷要素；S2，根据提取的所述缺陷要素建立要素矩阵，并根据所述要素矩阵分解描述原始缺陷数据；S3，比较原始缺陷数据与利用要素矩阵描述的缺陷数据之间的差异；S4，基于所述差异，优化要素矩阵模型，筛选缺陷要素，确定软件缺陷描述关键要素。

在本公开的一些实施例中，所述的软件缺陷描述关键要素的抽取方法还包括，步骤S5，筛选之后，分析缺陷要素之间相关性，确定软件缺陷描述关键要素。

在本公开的一些实施例中，在所述步骤S1之前，还包括：将n条原始缺陷描述数据转换为矩阵形式，得到矩阵b：

式中，b_i,1表示第i条原始缺陷描述数据；i＝1,2,3……n。

在本公开的一些实施例中，所述步骤S1包括以下子步骤：S11，从矩阵b中取出b_1,1数据，按照自然语言描述对其进行分解，提取若干缺陷要素；S12，对所述若干缺陷要素逐一进行判断：若要素不存在，则新建这一要素；若存在，则将这一要素的命中次数加1；S13，重复步骤S11、S12，直至遍历到矩阵b中的b_n,1数据，提取所有缺陷要素x_1,1，x_2,1，x_3,1……，x_m,1，其中m为提取到的缺陷要素的总数；并统计各要素的命中次数。

在本公开的一些实施例中，所述步骤S2包括：S21，将提取到的所有缺陷要素x_1,1，x_2,1，x_3,1……，x_m,1组成矩阵，得到要素矩阵x，矩阵x的维度为dim(x)，dim(x)＝m；

S22，将由原始缺陷数据组成的矩阵b中的每条数据b_i,1根据x矩阵中的要素进行分解描述，形成矩阵A：