[发明专利]数据校准方法、装置及电子设备

说明书

本发明实施例提供一种数据校准方法、装置及电子设备，该方法包括：从N1个第一数据点中选择M个第一参考数据点。根据第一校准参数得到校准后的N2个第二数据点，若其中存在至少K个超出预设范围，则表示第一校准参数不适用于当前环境，需要重新获取新的校准参数。上述过程实际是磁力仪自动检测使用环境是否发生变化的过程。在检测出使用环境发生变化后，根据K个第二数据点确定出P个第二参考数据点，并以P个第二参考数据点替换M个第一参考数据点中的P个。再根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数，此时获取的第二校准参数满足当前的使用环境，以实现磁力仪自动生成适用于当前环境的第二校准参数，进而提高了测量数据的准确校准。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种数据校准方法、装置及电子设备。

背景技术

磁力仪是一种重要的导航工具，能实时提供移动物体的姿态。在没有磁场干扰的环境下，磁力仪可以准确测量出由地磁场产生的磁场的磁场强度。但当使用环境中存在外界磁场干扰时，则会影响磁力仪的测量结果，因此，很有必要对磁力仪的测量结果进行校准。

通常在使用磁力仪之前会对磁力仪进行校准参数的标定，从而，在磁力仪的后续使用过程中，都将以初始标定的校准参数对测量数据进行校准。但在实际应用中，磁力仪可能被应用于环境多种多样的环境中，此初始标定的校准参数未必能够实现对测量结果的准确校准。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种数据校准方法、装置及电子设备，用以实现对磁力仪测量数据的自适应校准，以提高数据测量结果校准的准确性。

本发明实施例提供一种数据校准方法，包括：

从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个作为M个第一参考数据点；

根据所述第一校准参数对N2个第二数据点进行校准；

若校准后的N2个第二数据点中存在至少K个超出预设范围，则根据所述K个第二数据点，从所述N2个第二数据点中确定P个第二参考数据点；

以所述P个第二参考数据点替换所述M个第一参考数据点中与所述P个第二参考数据点距离最近的P个第一参考数据点；

根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数；

根据所述第二校准参数对所述N2个第二数据点之后采集到的数据点进行校准。

可选地，所述预设范围被预先划分为多个子范围，所述K个第二数据点位于同一子范围内。

可选地，所述根据所述K个第二数据点，从所述N2个第二数据点中确定P个第二参考数据点，包括：

确定所述K个第二数据点分别到所述预设范围对应的参考原点的距离；

计算确定出的K个距离的平均值；

对所述平均值进行校准逆变换，从所述N2个第二数据点中确定与所述校准逆变换结果对应的第二数据点作为所述P个第二参考数据点，P＝1。

可选地，所述计算确定出的K个距离的平均值之前，还包括：

从所述K个距离中滤除最大距离和最小距离；

所述计算确定出的K个距离的平均值，包括：

计算滤除后剩余的距离的平均值。

可选地，所述从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个作为M个第一参考数据点，包括：

根据所述第一校准参数对所述N1个第一数据点进行校准；

根据预设选取规则，从校准后的N1个第一数据点中选择出M个第一数据点；