[发明专利]检测热密封缺陷的方法、设备及系统

说明书

一种检测热密封缺陷的方法、设备和系统，所述设备包含：一高周波产生器，用以对应一容器之端口上覆盖的金属薄膜的位置，施加高周波；一红外线摄像器，用以在该容器上方感测红外线辐射，以生成该容器各部分的温度数据；一处理装置，用以接收该温度数据；将温度数据转换成一图像；对该图像进行定位，以定义出一感兴趣区域；计算不在一合格温度范围内的温度，在该图像的感兴趣区域中所占的连续面积；对该连续面积进行计算，并根据计算结果，判断是否指示一密封缺陷；以及一输出装置，用以指示出该密封缺陷。

技术领域

本揭示涉及一种检测技术，特别有关一种检测热密封缺陷的方法、设备及系统。

背景技术

在检测容器的热密封缺陷方面，现有技术一般采用红外线感测器来感测封口处的局部温度或整个密封区域的平均温度，并判断此温度是否在正常的温度范围内，依此来判断是否存在密封缺陷。另一种现有技术采用红外线成像仪来取得容器的热图像，并针对密封缺陷的区域(如破口)计算其平均温度，将其与一阈值比较，依此决定出容器的密封特性。然而，上述现有技术中，常常因为正常区域的温度参与了温度计算，使得检测结果常常是不准确的。

因此，有必要提出一种新的检测技术，以改善上述现有技术的缺失。

发明内容

本揭示的目的在于提供一种检测热密封缺陷的方法、设备及系统，以提升密封缺陷检测的准确性。

为达成上述目的，本揭示一方面提供一种检测热密封缺陷的方法，其应用于检测一容器之一端口的密封特性，该容器之端口以一金属薄膜覆盖，而在该金属薄膜上迭置有一盖体，所述方法包含：对应该容器之端口上覆盖的金属薄膜的位置，施加高周波；利用一红外线摄像器在该容器上方感测红外线辐射，以生成该容器各部分的温度数据；将该容器各部分的温度数据转换成该容器的一图像；对该容器的图像进行定位，以定义出一感兴趣区域(region of interest,ROI)；计算不在一合格温度范围内的温度，在该图像的感兴趣区域中所占的连续面积；以及对该连续面积进行计算，并根据计算结果，判断是否指示一密封缺陷。

本揭示另一方面提供一种检测热密封缺陷的设备，其应用于检测一容器之一端口的密封特性，该容器之端口以一金属薄膜覆盖，而在该金属薄膜上迭置有一盖体，所述设备包含：一高周波产生器，用以对应该容器之端口上覆盖的金属薄膜的位置，施加高周波；一红外线摄像器，用以在该高周波产生器施加该高周波后，在该容器上方感测红外线辐射，以生成该容器各部分的温度数据；一处理装置，与该红外线摄像器耦接，用以接收该红外线摄像器生成的该温度数据；将该容器各部分的温度数据转换成该容器的一图像；对该容器的图像进行定位，以定义出一感兴趣区域(region of interest,ROI)；计算不在一合格温度范围内的温度，在该图像的感兴趣区域中所占的连续面积；对该连续面积进行计算，并根据计算结果，判断是否指示一密封缺陷；以及一输出装置，与该处理装置耦接，用以指示该密封缺陷。

本揭示再一方面提供一种检测热密封缺陷的系统，其应用于检测一容器之一端口的密封特性，该容器之端口以一金属薄膜覆盖，而在该金属薄膜上迭置有一盖体，所述系统包含：一高周波产生器，设置于一生产线上，该生产线上具有一输送带，该输送带用以输送若干个装配有该金属薄膜和该盖体之容器，该高周波产生器用以对应每个容器之端口上覆盖的金属薄膜的位置，施加高周波；一红外线摄像器，用以在该高周波产生器施加该高周波后，在每个容器上方感测红外线辐射，以生成每个容器各部分的温度数据；一处理装置，与该红外线摄像器耦接，用以接收该红外线摄像器生成的该温度数据；将该容器各部分的温度数据转换成该容器的一图像；对该容器的图像进行定位，以定义出一感兴趣区域(regionof interest,ROI)；计算不在一合格温度范围内的温度，在该图像的感兴趣区域中所占的连续面积；对该连续面积进行计算，并根据计算结果，判断出该容器是否存在一密封缺陷；以及一移除装置，与该处理装置耦接，用以回应该处理装置判断出该容器存在该密封缺陷，而从该输送带上将该容器移除。