[发明专利]印刷电路板图像检测方法和装置有效

专利信息
申请号: 201710831010.3 申请日: 2017-09-15
公开(公告)号: CN109509166B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 刘士清;姚毅;高亮;赵敏 申请(专利权)人: 凌云光技术股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 100094 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 印刷 电路板 图像 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种印刷电路板图像检测方法,其特征在于,所述方法包括:

获取待检测图像信息,所述待检测图像信息为待检测印刷电路板的图像信息,所述待检测印刷电路板上包括待检测孔,所述图像信息为灰度图像信息;

根据所述待检测图像信息,确定所述待检测图像信息的轮廓像素,所述轮廓为待检测孔在待检测图像信息上形成的内轮廓,所述轮廓像素为与内轮廓相对应的像素的位置;

根据轮廓像素确定相对应的每个轮廓像素的亚像素位置,确定每个轮廓像素的亚像素位置包括:确定轮廓像素的梯度方向以及梯度像素,所述梯度方向为与轮廓像素相邻的像素中像素值变化最快的方向,梯度像素为梯度方向所对应的像素;根据像素精度等级、轮廓像素、轮廓像素的像素值和梯度像素、梯度像素的像素值确定亚像素位置,所述图像处理模块中包括像素精度等级;

将所述亚像素位置和待检测图像信息向图像判断模块发送,使图像判断模块根据待检测印刷电路板的待检测图像进行检测;

其中,所述根据像素精度等级、轮廓像素、轮廓像素的像素值和梯度像素、梯度像素的像素值确定亚像素位置包括:

根据精度等级将轮廓像素和梯度像素的之间的距离进行等分,其中,轮廓像素和梯度像素之间每一等分的像素值的差值为轮廓像素值和梯度像素值的差值与进度等级相同的等分;

轮廓像素和梯度像素的等分中像素值与第二阈值相同的等分点为亚像素位置。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括对所述待检测图像进行滤波处理,所述滤波处理包括采用中值滤波或均值滤波的方法。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述图像处理模块根据所述待检测图像信息,确定所述待检测图像信息的轮廓像素,包括:

确定第一阈值;

根据第一阈值确定待检测图像的二值化图像,所述二值化图像为黑色框图,所述黑色框图中包括内轮廓;

确定所述黑色框图的内轮廓的轮廓像素。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一阈值与所述第二阈值相同。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取待检测图像信息前,所述方法还包括:接收图像采集模块发送的图像数据信息;对所述图像数据信息进行灰度处理。

6.一种印刷电路板图像检测设备,其特征在于,所述设备包括:

接收单元,用于获取待检测图像信息,所述待检测图像信息为待检测印刷电路板的图像信息,所述待检测硬刷电路板上包括待检测孔,所述图像信息为灰度图像信息;

处理单元,用于根据所述待检测图像信息,确定所述待检测图像信息的轮廓像素,所述轮廓为待检测孔在待检测图像信息上形成的内轮廓,所述轮廓像素为与轮廓相对应的像素的位置;

所述处理单元,还用于根据轮廓像素确定相对应的每个轮廓像素的亚像素位置,所述轮廓像素为待检测图像上每个内轮廓的每个像素,其中,确定每个轮廓像素的亚像素位置包括:确定轮廓像素的梯度方向以及梯度像素,所述梯度方向为与轮廓像素相邻的像素中像素值变化最快的方向,梯度像素为梯度方向所对应的像素;根据像素精度等级、轮廓像素、轮廓像素的像素值和梯度像素、梯度像素的像素值确定亚像素位置,所述图像处理模块中包括像素精度顶级;其中,所述根据像素精度等级、轮廓像素、轮廓像素的像素值和梯度像素、梯度像素的像素值确定亚像素位置,包括:

根据精度等级将轮廓像素和梯度像素的之间的距离进行等分,其中,轮廓像素和梯度像素之间每一等分的像素值的差值为轮廓像素值和梯度像素值的差值与进度等级相同的等分;

轮廓像素和梯度像素的等分中像素值与第二阈值相同的等分点为亚像素位置;

发送单元,用于将所述亚像素位置和待检测图像信息向图像判断模块发送,使图像判断模块根据待检测印刷电路板的待检测图像进行检测。

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