[发明专利]一种电学层析成像混合方法有效

专利信息
申请号: 201710833962.9 申请日: 2017-09-15
公开(公告)号: CN107845119B 公开(公告)日: 2021-04-27
发明(设计)人: 严刚 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00;G06K9/62;G01N27/04
代理公司: 江苏圣典律师事务所 32237 代理人: 贺翔
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 电学 层析 成像 混合 方法
【权利要求书】:

1.一种电学层析成像混合方法,其特征在于,包括:

在目标物体内部电导率变化前后,测量所述目标物体的边界的电压数据;

根据所采集到的电压数据,采用Krylov子空间投影法进行降维度分析,并得到分析结果;

采用贝叶斯正则化方法,获取所述目标物体内部电导率的变化值;

所述采用Krylov子空间投影法进行降维度分析,包括:

建立子空间Wk=(w1,…,wk),其中,Wk为由k个标准正交基向量(w1,…,wk)张成的Krylov子空间;

利用所建立的子空间进行投影变换Δσ=Wky,获得未知量y,并将原正则化目标函数转变为其中,Δσ为与ΔV对应的前后两次测量时物体内部电导率的差值,ΔV为所述电压数据,具体是前后两次边界测量电压数据的差值,J为敏感性矩阵,η为正则化参数;

采用Lanczos双对角化算法,对J和ΔV进行Krylov投影分解,得到正则化目标函数其中Bk为分解获得的双对角矩阵,e1=(1,0,…,0)T是第一个元素为1且其他元素为0的子空间标准正交基向量,b0是一个常数;

所述采用贝叶斯正则化方法,获取所述目标物体内部电导率的变化值,包括:

通过层次化贝叶斯建模,建立未知量y在测量电压差投影向量b0e1支持下的后验概率密度函数p(y,τ2,λ2|b0e1);

通过最大化所述后验概率密度函数,建立最优条件方程组;

根据所述最优条件方程组,利用序贯贝叶斯学习迭代算法计算得到y、τ2和λ2,确定最优正则化参数η=τ22

根据投影变换Δσ=Wky,重建所述目标物体内部电导率的变化值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述未知量y的后验概率密度函数为其中,τ2是Bky与b0e1各元素之间误差的方差,λ2是表征y变化的尺度方差,α0,β0和α1,β1分别为τ2和λ2所满足的逆Gamma分布的超参数。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述建立最优条件方程组,包括:

建立的所述最优条件方程组为

其中,所述最优条件方程组满足所述未知量y的后验概率密度函数p(y,τ2,λ2|b0e1)最大化需求,k为张成Krylov空间的标准正交基向量的个数。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用序贯贝叶斯学习迭代算法计算得到y、τ2和λ2,确定最优正则化参数η=τ22,包括:

(a)根据先验知识给定已知参数的值;

(b)设置y、τ2和λ2的初始化值(i=0);

(c)更新y的值:

(d)更新τ2的值:

(e)更新λ2的值:

(f)回到步骤(c),设置i=i+1,直到||yi+1-yi||2/||yi||2<ε满足为止,其中,预设的误差容限取ε=10-6

(g)停止计算,输出yi根据投影变换Δσ=Wky,重建物体内部电导率的变化值;输出和的比值作为最优正则化参数η。

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