[发明专利]一种荧光分析方法和装置

权利要求书

1.一种无样品垫型测试片，其特征在于，所述测试片包括：

(i)层析膜，所述层析膜上的近端含有样品接触区；

(ii)位于层析膜远端并与层析膜相连或相接触的吸水垫，所述吸水垫为吸收区，用于使得待测物从样品接触区扩散至吸收区；和

(iii)位于所述样品接触区和所述吸收区之间的测试区，所述测试区包含固定化的第一捕获剂，所述第一捕获剂用于捕获从样品接触区移动至测试区的含吸光物质的复合物，所述含吸光物质的复合物为至少一种被吸光物质标记的结合剂与待测物或其等同物结合形成的复合物，且所述测试区具有荧光；

其中，当所述第一捕获剂捕获所述含吸光物质的复合物时，所述吸光物质降低所述测试区的荧光强度。

2.如权利要求1所述的测试片，其特征在于，所述测试片无结合垫。

3.如权利要求1所述的测试片，其特征在于，所述测试片还包括基片(背衬片)，所述基片的长度不超过层析膜和吸水垫的总长度。

4.如权利要求1所述的测试片，其特征在于，所述测试片还包括结合剂。

5.如权利要求1所述的测试片，其特征在于，所述测试片还包括至少一个位于测试区和吸收区之间的对照区，所述对照区含有固定化的第二捕获剂，其中，所述第二捕获剂用于特异性结合(多余的)被吸光物质标记的结合剂。

6.一种定量检测待测物的荧光分析方法，其特征在于，所述方法包括步骤：

(1)提供一复合物溶液，所述复合物溶液中含有待测物样品和结合剂结合形成的含吸光物质的复合物；

(2)将所述复合物溶液与权利要求1-5中任一所述的无样品垫型测试片的样品接触区接触；和

(3)测量所述测试片的测试区的荧光强度，从而得到定量检测待测物结果。

7.一种定量检测待测物的荧光分析方法，其特征在于，所述方法包括步骤：

(a)提供一权利要求1-5中任一所述的无样品垫型测试片和一复合物溶液，所述复合物溶液中含有待测物样品和结合剂结合形成的含吸光物质的复合物；

(b)将所述复合物溶液与所述测试片的样品接触区接触；

(c)步骤(a)中所述的含吸光物质的复合物移动至测试区，与其中的第一捕获剂结合，从而形成固定于测试区的含有吸光物质的复合物；和

(d)测量所述测试区的荧光强度，从而得到定量检测待测物结果。

8.如权利要求6或7所述的荧光分析方法，其特征在于，所述测量包括：将测试区与对照区中间处的荧光强度F2与测试区的荧光强度F1的比值，和标准曲线或标准值进行比较，从而确定待测物的数量；或者

将测试区的荧光强度F1和标准曲线或标准值进行比较，从而确定待测物的数量。

9.一种检测试剂盒，所述试剂盒包括：一权利要求1所述的无样品垫型测试片；和使用说明书。

10.一种定量检测待测物的荧光测量装置，所述的装置包括：

(a)一权利要求1所述的无样品垫型测试片；

(b)一用于检测荧光强度的检测器；和

(c)描述使用方法的使用说明。