[发明专利]载盘及使用该载盘的电子元件量测方法及装置

说明书

本发明提供一种载盘及使用该载盘的电子元件量测方法及装置，包括：数个载槽，环列布设于载盘的周缘，所述载槽设有一由该载槽的内周侧朝该载槽中央处延伸凸出的遮盖部与一可供一待测元件载入的置纳空间；其特征在于，该遮盖部位于所述载槽的上方，该遮盖部遮盖待测组件顶部部分面积，可供该待测元件载入的该置纳空间设于该遮盖部的下方；一搬送步骤，该载盘以间歇性旋转流路搬送该载槽内的该待测元件至一量测区域；一量测步骤，该待测元件停留在该量测区域时，探针向上碰触该待测元件，并顶升该待测元件，使该待测元件受该遮盖部挡抵。

技术领域

本发明有关于一种载盘及使用该载盘的量测方法及装置，尤指一种用以搬送电子元件进行物理特性量测、分类或包装的载盘及使用该载盘的电子元件量测方法及装置。

背景技术

习知电子元件如发光二极管(LED)或被动元件等，在产出后通常会进行物理特性的量测，以进行分类与包装；专利号第I447060号「工件搬运装置」已揭露一种工件搬运装置，具备有平台底座，和旋转自如配置在平台底座上且于外围部设有数个的工件收纳孔的搬运平台，及经由分离供应部连结于搬运平台，可将工件供应至搬运平台的工件收纳孔内的线性进料器；其中，线性进料器、分离供应部、工件收纳孔的上面由平台罩盖覆盖着；此外，于搬运平台的外围部，沿着间歇旋转方向依下述顺序设有第1检查部、第2检查部、排出部；工件具有长方体形状于上面具有发光面的本体以及从本体朝长度方向的前方及后方突出作为电极的引线端子；搬运平台旋转搬运工件到达第1检查部，搬运平台就会停止，此时，于引线端子的正下方位置的平台底座内，设有垂直方向进退自如的探针，利用控制部的作用使探针朝引线端子前进，以抵接着引线端子的状态将工件往上推，使工件的上面成为抵接在第1检查部罩盖的下面的状态后就停止往上推，对工件的电性特性进行测定之后，探针就向下退出，并再继续使搬运平台间歇旋转搬运工件，当工件到达第2检查部时，对工件实施与第1检查部不同检查项目的检查，经第2检查部检查结束后的工件会到达排出部从工件收纳孔排出。

发明内容

现有技术在搬运平台间歇旋转搬运工件时，工件可能会在工件收纳孔内跳动而非平整贴附于平台底座的上面，又因工件收纳孔的上面被平台罩盖覆盖着，故工件的上面可能会碰触到平台罩盖的下面，在平台罩盖不动而搬运平台相对平台罩盖间歇旋转搬运工件的情形下，工件的上面可能会因相对位移的摩擦到平台罩盖造成损伤，以发光二极管(LED)工件为例，其上面的发光面为透明胶填充，在无外壳的保护下又更有损伤的疑虑；且工件到达检查部时，平台底座内的探针会以抵接着引线端子的状态将工件往上推，使工件的上面成为抵触在检查部平台罩盖的下面的状态，该抵触的摩擦亦会使工件的上面发生损伤的情形。

因此，本发明的目的在于提供一种可减少电子元件在搬送过程中发生损伤的载盘。

本发明的另一目的在于提供一种使用如所述载盘的电子元件量测方法。

本发明的又一目的在于提供一种使用如所述电子元件量测方法的装置。

依据本发明目的的载盘，包括：数个载槽，环列布设于载盘的周缘，所述载槽设有一由该载槽的内周侧朝该载槽中央处延伸凸出的遮盖部与一可供一待测元件载入的置纳空间；其特征在于，该遮盖部位于所述载槽的上方，该遮盖部遮盖待测组件顶部部分面积，可供该待测元件载入的该置纳空间设于该遮盖部的下方。

依据本发明另一目的的电子元件量测方法，使用如所述的载盘，包括：一搬送步骤，该载盘以间歇性旋转流路搬送该载槽内的该待测元件至一量测区域；一量测步骤，该待测元件停留在该量测区域时，探针向上碰触该待测元件，并顶升该待测元件，使该待测元件受该遮盖部挡抵。

依据本发明又一目的的电子元件量测装置，包括：使用如所述的电子元件量测方法的装置。