[发明专利]一种电容器的金属化薄膜精度检测系统

权利要求书

1.一种电容器的金属化薄膜精度检测系统，其特征在于，包括：

传送装置，用于将已镀金属层的塑料薄膜展平铺设于无光环境中并按照预设运动模式传送；

检测装置，包括光源发射单元和投影单元，光源发射单元设于已镀金属层的塑料薄膜厚度方向的一侧，投影单元设于已镀金属层的塑料薄膜厚度方向的另一侧；

分析装置，用于获取呈现在投影单元的图像信息并分析，且反馈分析结果。

2.根据权利要求1所述的电容器的金属化薄膜精度检测系统，其特征在于，所述传送装置中，所述预设运动模式为：运动t₁时间和停止运动t₂时间循环交替，其中，t₁和t₂均为预设值。

3.根据权利要求2所述的电容器的金属化薄膜精度检测系统，其特征在于，所述检测装置在传送装置停止运动时工作；

优选地，所述检测装置中，光源发射单元投射在已镀金属层的塑料薄膜上的光照面积不小于已镀金属层的塑料薄膜的面积。

4.根据权利要求1所述的电容器的金属化薄膜精度检测系统，其特征在于，分析装置具体用于：

分析装置内存储有预设图像信息；

分析装置获取呈现在投影单元的图像信息，并计算出上述图像信息与预设图像信息的相似度S，当S≤S₀时，分析装置将已镀金属层的塑料薄膜的精度异常作为分析结果进行反馈。

5.根据权利要求4所述的电容器的金属化薄膜精度检测系统，其特征在于，还包括警示装置，警示装置用于在分析装置将已镀金属层的塑料薄膜的精度异常作为分析结果进行反馈时，发出警示信息。

6.根据权利要求1所述的电容器的金属化薄膜精度检测系统，其特征在于，还包括显示装置，显示装置用于显示分析装置反馈的分析结果。