[发明专利]一种检测交流110V-LED芯片的方法有效
| 申请号： | 201710868351.8 | 申请日： | 2017-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN107490754B | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 王焕友;金桂;谢光奇 | 申请（专利权）人： | 湘南学院 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 43214 长沙七源专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 郑隽;周晓艳<国际申请>=<国际公布>= |
| 地址： | 423099 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片 单胞 死灯 漏电 低电流 正反向测试 测试芯片 统计数据 有效筛选 阈值标准 小电流 点亮 亮灯 发光 验证 检测 重复 观察 交流 | ||
【权利要求书】：
1.一种交流110V-LED芯片亮度的检测方法，其特征在于，包括步骤：
A、用低电流正反测试芯片的亮度，并取正反向测试亮度的差值；
B、将不同差值段的芯片用光型仪低电流持续点亮，并观察每个单胞的发光情况，确定存在单胞死灯的差值段，并进行重复验证，确定死灯比例最高的差值段；死灯即不亮灯的单胞；
C、存在单胞死灯的差值段的较小阈值为X，死灯比例最高的差值段的较小阈值为Y，X小于Y，确定存在漏电风险的芯片亮度差值为大于X。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在步骤A之前包括：
用正常使用的电流正反测试芯片电压、亮度、波长参数，采用普通正装芯片的通用测试方法，对芯片进行初步筛选。
3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在步骤C之后包括：
在点测机台上设定低电流亮度差的卡值X，作为芯片筛选的亮度差阈值。
4.根据权利要求1-3任一项所述的检测方法，其特征在于，不同差值段的区分方法为：以亮度差值的最大值和最小值为区域极点，每隔10％～30％列为一个差值段。
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