[发明专利]一种 DIO 通道状态检测方法及嵌入式测试系统在审
申请号: | 201710877993.4 | 申请日: | 2017-09-26 |
公开(公告)号: | CN109557892A | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 蒋明睿;李宁;郭策;陈明奎;费巧玲;黄帅;刘鹏翔;贺晓梅 | 申请(专利权)人: | 株洲中车时代电气股份有限公司 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02;G01R31/327 |
代理公司: | 北京聿华联合知识产权代理有限公司 11611 | 代理人: | 李哲伟;张文娟 |
地址: | 412001 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 开关器件 嵌入式测试 状态检测 告警信号 可用 预设 老化 参考 输出 统计 | ||
1.一种DIO通道状态检测方法,其特征在于,所述方法包括:
步骤一、获取待测DIO通道中待测开关器件的开关次数;
步骤二、将所述待测开关器件的开关次数与该开关器件的预设可用开关次数参考阈值进行比较,根据比较结果确定所述待测开关器件的状态。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述步骤一中,通过对所述待测开关器件的开关次数进行实时累积计数,得到所述的待测开关器件的开关次数。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述步骤一中,
检测经过所述待测开关器件的信号,并对该信号的上升沿进行检测,当检测到信号上升沿时,将所述待测开关器件的开关次数增加一次;或,
检测经过所述待测开关器件的信号,并对该信号的下降沿进行检测,当检测到信号下降沿时,将所述待测开关器件的开关次数增加一次;或,
检测经过所述待测开关器件的信号,并对该信号的上升沿和下降沿进行检测,当检测到一组成对的信号上升沿和信号下降沿时,将所述待测开关器件的开关次数增加一次。
4.如权利要求1~3中任一项所述的方法,其特征在于,如果所述待测开关器件的开关次数与预设可用开关次数参考阈值的比值大于或等于第一预设比例阈值,则生成并输出第一告警信号。
5.如权利要求1~4中任一项所述的方法,其特征在于,
如果所述待测开关器件的开关次数与预设可用开关次数参考阈值的比值大于或等于第一预设比例阈值但小于第二预设比例阈值,则生成并输出第一告警信号;
如果所述待测开关器件的开关次数与预设可用开关次数参考阈值的比值大于或等于第二预设比例阈值,则生成并输出第二告警信号。
6.如权利要求1~5中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据开关器件的开关次数与其对应的预设可用开关次数参考阈值,确定所述待测DIO通道中各个开关器件的器件状态类型;
基于所述待测DIO通道中各个DIO信号的信号频率获取所述待测DIO通道中各个DIO信号的信号类型;
根据所述信号类型和器件状态类型,将指定信号类型的DIO信号与指定器件状态类型的开关器件相关联,使得指定信号类型的DIO信号通过指定器件类型的开关器件进行传输。
7.一种嵌入式测试系统,其特征在于,所述系统采用如权利要求1~6中任一项所述的方法进行DIO通道状态的检测。
8.如权利要求7所述的系统,其特征在于,所述系统包括:
检测计数装置,其用于检测待测DIO通道中待测开关器件的开关状态,得到所述待测开关器件的开关次数;
状态诊断装置,其与所述检测计数装置连接,用于将所述待测开关器件的开关次数与该开关器件的预设可用开关次数参考阈值进行比较,根据比较结果确定所述待测开关器件的状态。
9.如权利要求8所述的系统,其特征在于,所述状态诊断装置配置为计算所述待测开关器件的开关次数与预设可用开关次数参考阈值的比值,并根据该比值的取值区间确定所述待测开关器件的状态。
10.如权利要求8或9所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:
信号调整装置,其与所述状态诊断装置连接,用于根据开关器件的开关次数与其对应的预设可用开关次数参考阈值,确定所述待测DIO通道中各个开关器件的器件状态类型,基于所述待测DIO通道中各个DIO信号的信号频率获取所述待测DIO通道中各个DIO信号的信号类型,并根据所述信号类型和器件状态类型,将指定信号类型的DIO信号与指定器件状态类型的开关器件相关联,使得指定信号类型的DIO信号通过指定器件类型的开关器件进行传输。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株洲中车时代电气股份有限公司,未经株洲中车时代电气股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710877993.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。