[发明专利]一种 DIO 通道状态检测方法及嵌入式测试系统

说明书

一种DIO通道状态检测方法及嵌入式测试系统，其中，该方法包括：步骤一、获取待测DIO通道中待测开关器件的开关次数；步骤二、将待测开关器件的开关次数与该开关器件的预设可用开关次数参考阈值进行比较，根据比较结果确定待测开关器件的状态。本方法能够通过统计待测开关器件的开关次数来判断该待测开关器件的状态，从而在待测开关器件的开关次数达到一定次数时生成并输出告警信号，这样也就方便用户能够更加准确、可靠地了解到开关器件的当前状态，防止由于开关器件老化失效而导致对应的DIO通道失效。

技术领域

本发明涉及嵌入式控制技术领域，具体地说，涉及一种DIO通道状态检测方法及嵌入式测试系统。

背景技术

随着中国工业化进程的发展，嵌入式控制软件的应用越来越广泛，对嵌入式控制软件的可靠性要求也越来越高，软件测试作为嵌入式控制软件质量的一个重要保证，也越来越受到重视。

嵌入式控制软件的测试系统构建过程中，常使用DIO硬件实现被测产品的数字量输入输出信号的采集、转换及驱动输出功能。常用的DIO硬件通道包括 MOSFET方式和继电器方式。

DIO硬件在实际工作中，影响DIO硬件通道可用性的一个关键因素是通道开关器件的可用性。当DIO硬件采用继电器方式的DIO通道时，因继电器开关器件存在一定的电气寿命，当开关器件的开关次数达到一定值后，器件可能会出现老化失效，从而导致对应的DIO通道失效，此时需要整体更换DIO硬件。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供了一种DIO通道状态检测方法，所述方法包括：

步骤一、获取待测DIO通道中待测开关器件的开关次数；

步骤二、将所述待测开关器件的开关次数与该开关器件的预设可用开关次数参考阈值进行比较，根据比较结果确定所述待测开关器件的状态。

根据本发明的一个实施例，在所述步骤一中，通过对所述待测开关器件的开关次数进行实时累积计数，得到所述的待测开关器件的开关次数。

根据本发明的一个实施例，在所述步骤一中，

检测经过所述待测开关器件的信号，并对该信号的上升沿进行检测，当检测到信号上升沿时，将所述待测开关器件的开关次数增加一次；或，

检测经过所述待测开关器件的信号，并对该信号的下降沿进行检测，当检测到信号下降沿时，将所述待测开关器件的开关次数增加一次；或，

检测经过所述待测开关器件的信号，并对该信号的上升沿和下降沿进行检测，当检测到一组成对的信号上升沿和信号下降沿时，将所述待测开关器件的开关次数增加一次。

根据本发明的一个实施例，如果所述待测开关器件的开关次数与预设可用开关次数参考阈值的比值大于或等于第一预设比例阈值，则生成并输出第一告警信号。

根据本发明的一个实施例，如果所述待测开关器件的开关次数与预设可用开关次数参考阈值的比值大于或等于第一预设比例阈值但小于第二预设比例阈值，则生成并输出第一告警信号；

如果所述待测开关器件的开关次数与预设可用开关次数参考阈值的比值大于或等于第二预设比例阈值，则生成并输出第二告警信号。

根据本发明的一个实施例，所述方法还包括：

根据开关器件的开关次数与其对应的预设可用开关次数参考阈值，确定所述待测DIO通道中各个开关器件的器件状态类型；

基于所述待测DIO通道中各个DIO信号的信号频率获取所述待测DIO通道中各个DIO信号的信号类型；

根据所述信号类型和器件状态类型，将指定信号类型的DIO信号与指定器件状态类型的开关器件相关联，使得指定信号类型的DIO信号通过指定器件类型的开关器件进行传输。