[发明专利]短路不良的检测方法和装置

说明书

本发明提供一种短路不良的检测方法和装置。所述短路不良的检测方法包括：在检测阶段包括的第一时间段，向外部补偿控制端提供第一外部补偿控制电压，以控制外部补偿控制晶体管导通；在该检测阶段包括的检测时间段，向外部补偿控制端提供第二外部补偿控制电压，以控制外部补偿控制晶体管关断；在检测时间段，将阳极层与检测仪器包括的导电电极层相对设置，并控制液晶层设置于该阳极层与该导电电极层之间，根据液晶层上是否存在暗点以判断相应的外部补偿像素驱动电路中是否存在短路不良。本发明能准确进行暗点显示不良，从而能够准确定位短路不良位置。

技术领域

本发明涉及显示不良检测技术领域，尤其涉及一种短路不良的检测方法和装置。

背景技术

制作OLED(有机发光二极管)屏幕是非常复杂的，每一层都需要耗费很大的人力物力。通常先在Array(阵列)工艺段完成Array基板的制作，在制作阵列基板上，先在衬底基板上依次制作栅金属层、栅绝缘层、有源层、刻蚀阻挡层、源漏金属层、钝化层、OLED发光层、阳极层。在做完由ITO(氧化铟锡)制成的阳极层后会进行Array Test(阵列测试)，其实就是个选择的过程，对于性能好的glass(玻璃)留下并送往下一阶段，对于不符合要求的玻璃在这一阶段就把它筛选掉。然而在目前的阵列测试中很难检测出不良点，因为显示面板设计采用的是全面板电源线(VDD mesh)的设计，电源电压输入端给入正的大电压这会使得阵列检测时与检测仪器端的导电电极层(所述导电电极层与待测基板之间设置有液晶层)产生电压差形成电容，使得原本应该是暗点的不良在设备上也显示为亮点。如何规避全面板电源线结构产生的line(线)charging(充电)影响是技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种短路不良的检测方法和装置，解决现有技术中由于显示面板设计采用的是全面板电源线的设计，电源电压输入端给入正的大电压这会使得阵列检测时与检测仪器端的导电电极层产生电压差形成电容，使得原本应该是暗点的不良在设备上也显示为亮点，从而导致短路不良检测结果不准确的问题。

为了达到上述目的，本发明提供了一种短路不良的检测方法，采用外部检测仪器以检测待测基板包括的外部补偿像素驱动电路是否存在短路不良，所述待测基板包括衬底基板以及设置于所述衬底基板上的阳极层和阵列排布的多个外部补偿像素驱动电路，所述阳极层位于所述待测基板的最上方；所述阳极层包括阵列排布的多个阳极，一所述阳极与一所述外部补偿像素驱动电路对应连接；所述外部补偿像素驱动电路还与数据线、数据写入控制端、电源电压输入端、外部补偿控制端和外部补偿线连接；所述外部检测仪器包括导电电极层和液晶层；所述导电电极层接入预定电极电压；一检测阶段包括依次设置的第一时间段和检测时间段，所述短路不良的检测方法包括：

在一检测阶段，向所述电源电压输入端提供预定电源电压，向所述数据线提供预定数据电压，向所述数据写入控制端提供预定数据写入控制电压，向所述外部补偿线提供预定外部补偿电压；所述预定电源电压与所述预定电极电压之间的电压差值的绝对值小于第一预定电压差值；

在该检测阶段包括的第一时间段，向所述外部补偿控制端提供第一外部补偿控制电压，以控制所述外部补偿像素驱动电路包括的外部补偿控制晶体管导通；在该检测阶段包括的检测时间段，向所述外部补偿控制端提供第二外部补偿控制电压，以控制所述外部补偿像素驱动电路包括的外部补偿控制晶体管关断；

在该检测阶段包括的检测时间段，将所述阳极层与所述检测仪器包括的导电电极层相对设置，并控制所述液晶层设置于该阳极层与该导电电极层之间，根据所述液晶层上是否存在暗点以判断相应的外部补偿像素驱动电路中是否存在短路不良。

实施时，所述第一预定电压差值小于或等于1V。

实施时，所述预定电极电压为负电压，所述预定电源电压也为负电压，所述预定外部补偿电压为正电压，所述预定数据写入控制电压为正电压，所述预定数据电压为负电压。