[发明专利]一种基于高阶边缘检测算子的缺陷检测方法

说明书

本发明公开了一种基于高阶边缘检测算子的缺陷检测方法，包括以下步骤：采集面板图像；计算图像的水平梯度、垂直梯度、水平二阶梯度算子、垂直二阶梯度算子和混合二阶梯度算子；计算水平梯度和垂直梯度的平方和开方为边缘矩阵一，水平二阶梯度算子和垂直二阶梯度算子的平方和加2倍的混合二阶梯度算子再开方为边缘矩阵二；边缘矩阵一的一半加边缘矩阵二的三分之一作为最终的边缘矩阵；设定边缘阈值，若边缘矩阵中有数值大于所设定的阈值，则存在细缝区域，该面板为破损件；若边缘矩阵中的数值均小于所设定的阈值，则不存在细缝区域，该面板完好。

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其是涉及一种基于高阶边缘检测算子的缺陷检测方法。

背景技术

随着人们生活水平的不断提高以及电子设备不断普及，电子设备的生产出货量十分巨大，如何实现电子设备产品生产过程中缺陷的自动化检测，成为了各大厂商关注的问题之一。

其中电子设备玻璃盖板的生产工艺步骤多，存在很多问题，改进空间较大，主要存在的问题有：

目前常用的印刷缺陷检测方法通常采用的多是基于玻璃盖板图像的边缘提取算法，再分析轮廓及边缘的平整性和凹凸区域，但现有的技术还无法检出细微的缺陷，因为在细微的缺陷附近，常用的边缘提取算法无法准确的提取出边缘。

另外，现有的工艺是采用终检时人工目检，无法有效的预防因机器故障或破损导致的玻璃盖板破损，从破损第一次发生到终检时人工查出，已生产出一系列的破损件，无法及时调整，造成了厂商的损失和浪费。

发明内容

发明目的：为了克服现有技术中存在的不足，本发明提供一种基于高阶边缘检测算子的缺陷检测方法，能够实现破损件的自动化检测。

技术方案：为实现上述目的，本发明采用的技术方案为：

一种基于高阶边缘检测算子的缺陷检测方法，包括以下步骤：

步骤1)采集面板图像；

步骤2)计算图像的水平梯度、垂直梯度、水平二阶梯度算子、垂直二阶梯度算子和混合二阶梯度算子；

步骤3)计算水平梯度和垂直梯度的平方和开方为边缘矩阵一，水平二阶梯度算子和垂直二阶梯度算子的平方和加2倍的混合二阶梯度算子再开方为边缘矩阵二；

步骤4)边缘矩阵一的一半加边缘矩阵二的三分之一作为最终的边缘矩阵；

步骤5)设定边缘阈值，若边缘矩阵中有数值大于所设定的阈值，则存在细缝区域，该面板为破损件；若边缘矩阵中的数值均小于所设定的阈值，则不存在细缝区域，该面板完好。

优选的：将与当前图像相差一列的图像最右一列补零列，得参考图像一，则所述水平梯度即将当前图像像素值减去参考图像一的像素值。

优选的：将与当前图像相差一行的图像最下一行补零行，得参考图像二，则所述垂直梯度即将当前图像像素值减去参考图像二的像素值。

优选的：水平二阶梯度算子即重复求两次水平梯度。

优选的：垂直二阶梯度算子即重复求两次垂直梯度。

优选的：混合二阶梯度算子即先求一次水平梯度，再求一次垂直梯度。

优选的：所述边缘阈值设定为0.6。

本发明相比现有技术，具有以下有益效果：

1.能够实现自动化检测，避免了人工终检带来的检验不及时的缺点。

2.通过利用高阶的边缘检测算子，避免了将细微之处忽略的缺陷，能准确检验到细缝等缺陷处，检测精度有所提高。

附图说明