[发明专利]成像设备、成像系统、移动体和控制方法有效
申请号: | 201710912826.9 | 申请日: | 2017-09-30 |
公开(公告)号: | CN107888851B | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 五十岚真弥;识名纪之;岩仓靖;和田洋一 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H04N5/357 | 分类号: | H04N5/357 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 张劲松 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 设备 系统 移动 控制 方法 | ||
本发明公开了成像设备、成像系统、移动体和控制方法。成像设备包括多个像素和处理单元。所述多个像素包括:(i)被布置为接收入射光并且输出基于入射光的光信号的光接收像素,和(ii)被布置为输出用于构成故障检测信号的像素信号的参考像素。所述处理单元被布置为基于指示所述参考像素的异常的异常信息来确定所述故障检测信号是否正确。
技术领域
本发明涉及成像设备、成像系统、移动体和控制方法。
背景技术
在日本专利申请公开No.2009-118427中讨论的成像设备包括有效像素区域和非有效像素区域。光从外面进入有效像素区域。布置在有效像素区域中的像素包括通过光电转换产生电信号的光电二极管 (PD)。
整个非有效像素区域被遮光膜覆盖。非有效像素区域包括参考 (reference)区域和故障检测图样(pattern)区域。布置在参考区域中的像素产生用作图像信号电平的参考的信号。在故障检测图样区域中,排列包括光电二极管的像素(PD像素)和不包括光电二极管的像素(非PD像素)。可以从故障检测图样区域获得根据设置PD的像素和未设置PD的像素的阵列图样的信号。
可以通过设定故障检测区域以提供预定的信号图样并且比较预定的信号图样与实际的产生的信号图样来执行故障的确定。如果实际的信号图样不匹配预定的信号图样,那么成像设备被确定为具有故障。
然而,已意识到,这样的故障检测方法可能不正确地确定成像设备具有故障。
发明内容
根据本发明的一个方面,成像设备包括多个像素和处理单元,所述多个像素包括被布置为接收入射光并且输出基于入射光的像素信号的光接收像素和被布置为输出用于构成(configure)故障检测信号的像素信号的参考像素,所述处理单元被布置为基于指示所述参考像素的异常的异常信息来确定所述故障检测信号是否正确。
根据本发明的另一方面,成像系统包括信号处理单元,所述信号处理单元被配置为:处理根据入射光的像素信号和用于检测成像设备的故障的故障检测信号,所述像素信号和故障检测信号是从所述成像设备输出的;和基于指示所述成像设备的像素的异常的异常信息来确定所述故障检测信号是否正确。
根据本发明的又另一方面,控制方法包括:存储指示成像设备的像素的异常的异常信息;接收用于检测所述成像设备的故障的故障检测信号;以及基于存储的异常信息来确定所述故障检测信号是否正确。
从参考附图的示例性实施例的以下描述,本发明的其它特征将变得清晰。
附图说明
图1是示意性地示出成像设备的总体配置的示图。
图2A和图2B是示出成像设备的像素的等效电路的示图。
图3是示意性地示出成像设备的像素的操作的时序图。
图4是示意性地示出由成像设备输出的故障检测信号的示图。
图5是示出用于确定成像设备的操作的方法的流程图。
图6是示出用于确定成像设备的操作的方法的流程图。
图7A是示出移动体的示例性实施例的示图。图7B是示出移动体的示例性实施例的系统配置的框图。
图8是示意性地示出成像设备的总体配置的示图。
图9是示出成像系统的示例性实施例的配置的框图。
图10是示意性地示出成像设备的像素的平面结构的示图。
图11是示意性地示出成像设备的像素的平面结构的示图。
图12A和图12B是示意性地示出成像设备的像素的截面结构的示图。
具体实施方式
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