[发明专利]外接设备识别方法和装置、标识装置、外接设备、系统

权利要求书

1.一种外接设备识别方法，包括：

获取周围物体的反射特征；

比对所述反射特征与至少一个预设标识装置的反射特征；其中，所述预设标识装置包括位于外接设备的至少一个外侧面的标识结构，所述外接设备用于向电子设备提供辅助功能；所述标识结构包括至少一处低反射表面、至少一处凹陷表面、至少一处凸起表面，所述低反射表面形成的逆反射光强度低于设定阈值，所述凹陷表面和凸起表面的逆反射光强度不低于所述设定阈值；

将匹配于预设标识装置的反射特征的物体确定为外接设备。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述获取周围物体的反射特征包括：

采用多线激光获取周围物体的反射特征，所述反射特征包括宽度信息。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述外接设备包括多个，所述方法还包括：

接收所述多个外接设备的搜寻请求；

分别查找所述多个外接设备的预设标识装置的反射特征。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述反射特征包括无反射信息、距离信息中至少一种，所述获取周围物体的反射特征包括：

控制激光雷达扫描得到点云信息；

根据所述点云信息，识别所述物体的反射特征。

5.一种外接设备识别装置，包括：

特征获取模块，用于获取周围物体的反射特征；

反射特征比对模块，用于比对所述反射特征与至少一个预设标识装置的反射特征；其中，所述预设标识装置包括位于外接设备的至少一个外侧面的标识结构，所述外接设备用于向电子设备提供辅助功能；所述标识结构包括至少一处低反射表面、至少一处凹陷表面、至少一处凸起表面，所述低反射表面形成的逆反射光强度低于设定阈值，所述凹陷表面和凸起表面的逆反射光强度不低于所述设定阈值；

外接设备确定模块，用于将匹配于预设标识装置的反射特征的物体确定为外接设备。

6.一种标识装置，包括位于外接设备的至少一个外侧面的标识结构，所述外接设备用于向电子设备提供辅助功能；

所述标识结构包括至少一处低反射表面、至少一处凹陷表面和至少一处凸起表面；

所述低反射表面形成的逆反射光强度低于设定阈值，所述凹陷表面和凸起表面的逆反射光强度不低于所述设定阈值。

7.一种外接设备，包括支撑结构和标识装置，所述支撑结构上设置有用于连接电子设备的接口；

所述标识装置包括位于所述外接设备至少一个外侧面的标识结构；

所述标识结构包括至少一处低反射表面、至少一处凹陷表面和至少一处凸起表面；

所述低反射表面形成的逆反射光强度低于设定阈值，所述凹陷表面和凸起表面的逆反射光强度不低于所述设定阈值。

8.一种电子装置系统，包括电子设备和用于向电子设备提供辅助功能的外接设备，所述外接设备上设置有标识装置；

所述标识装置包括位于外接设备的至少一个外侧面的标识结构；

所述标识结构包括至少一处低反射表面、至少一处凹陷表面和至少一处凸起表面；

所述低反射表面形成的逆反射光强度低于设定阈值，所述凹陷表面和凸起表面的逆反射光强度不低于所述设定阈值。

9.一种计算机设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：

获取周围物体的反射特征；

比对所述反射特征与至少一个预设标识装置的反射特征；其中，所述预设标识装置包括位于外接设备的至少一个外侧面的标识结构，所述外接设备用于向电子设备提供辅助功能；所述标识结构包括至少一处低反射表面、至少一处凹陷表面、至少一处凸起表面，所述低反射表面形成的逆反射光强度低于设定阈值，所述凹陷表面和凸起表面的逆反射光强度不低于所述设定阈值；

将匹配于预设标识装置的反射特征的物体确定为外接设备。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取周围物体的反射特征；

比对所述反射特征与至少一个预设标识装置的反射特征；其中，所述预设标识装置包括位于外接设备的至少一个外侧面的标识结构，所述外接设备用于向电子设备提供辅助功能；所述标识结构包括至少一处低反射表面、至少一处凹陷表面、至少一处凸起表面，所述低反射表面形成的逆反射光强度低于设定阈值，所述凹陷表面和凸起表面的逆反射光强度不低于所述设定阈值；

将匹配于预设标识装置的反射特征的物体确定为外接设备。