[发明专利]平场校正方法及装置、图像验证方法及装置

权利要求书

1.一种平场校正方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

调整相机的曝光时间到最小，同时调整所述相机的增益到最小；利用调整后的所述相机采集目标物体的图像，得到暗场图像；

调整所述相机的曝光时间到正常拍摄状态时的曝光时间，同时调整所述相机的增益到正常拍摄状态时的增益；利用调整后的所述相机采集所述目标物体的图像，得到备用亮场图像；

对所述备用亮场图像中各个像素点的灰度值进行均值滤波，得到亮场图像；

利用关闭镜头盖的相机采集所述目标物体的图像，得到参考暗场图像；

根据所述暗场图像中各个像素点的灰度值以及所述参考暗场图像中对应的像素点的灰度值，判断所述暗场图像是否受外界光照影响大，若所述暗场图像受外界光照影响大，则利用所述参考暗场图像替换所述暗场图像；

结合所述暗场图像和所述亮场图像，利用平场校正算法校正所述相机拍摄图像中各个像素点的灰度值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断所述暗场图像是否受外界光照影响大，包括如下步骤：

计算所述暗场图像中各像素点灰度值的均方差；

判断所述均方差是否大于第一预定值，若所述均方差大于所述第一预定值，则所述暗场图像受外界光照影响大。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断所述暗场图像是否受外界光照影响大，包括如下步骤：

利用下面的公式计算所述参考暗场图像中各个像素点的FPN值；

FPN1(k)＝IM1(k)-min(IM1)

式中，FPN1(k)表示所述参考暗场图像中第k个像素点的FPN值,IM1(k)表示所述参考暗场图像中第k个像素点的灰度值，min(IM1)表示所述参考暗场图像中所有像素点的灰度值的最小值；

利用下面的公式计算所述暗场图像中各个像素点的FPN值；

FPN2(k)＝IM2(k)-min(IM2)

式中，FPN2(k)表示所述暗场图像中第k个像素点的FPN值,IM2(k)表示所暗场图像中第k个像素点的灰度值，min(IM2)表示所述暗场图像中所有像素点的灰度值的最小值；

计算所述参考暗场图像中各个像素点的FPN值的平均值，作为第一平均值；

计算所述暗场图像中各个像素点的FPN值的平均值，作为第二平均值；

判断下式是否成立：

第二平均值第一平均值

若上式成立，则所述暗场图像受外界光照影响大。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断所述暗场图像是否受外界光照影响大，包括如下步骤：

利用下面的公式计算所述参考暗场图像中各个像素点的FPN值；

FPN1(k)＝IM1(k)-min(IM1)

式中，FPN1(k)表示所述参考暗场图像中第k个像素点的FPN值,IM1(k)表示所述参考暗场图像中第k个像素点的灰度值，min(IM1)表示所述参考暗场图像中所有像素点的灰度值的最小值；

利用下面的公式计算所述暗场图像中各个像素点的FPN值；

FPN2(k)＝IM2(k)-min(IM2)

式中，FPN2(k)表示所述暗场图像中第k个像素点的FPN值,IM2(k)表示所暗场图像中第k个像素点的灰度值，min(IM2)表示所述暗场图像中所有像素点的灰度值的最小值；

对于所述暗场图像中每个像素点，利用该像素点的FPN值减去所述参考暗场图像中对应像素点的FPN值，作为FPN差值；

统计所述FPN差值中正数的个数，作为第一数量；

统计所述FPN差值中除正数外的剩余FPN差值的个数，作为第二数量；

判断下式是否成立：

第一数量第二数量

若上式成立，则所述暗场图像受外界光照影响大。