[发明专利]平场校正方法及装置、图像验证方法及装置

说明书

本发明实施例提供了一种平场校正方法及装置、图像验证方法及装置。该平场校正方法利用调整曝光时间和增益后的相机获取暗场图像，避免了由于人工遮蔽镜头造成误操作，从而提高了暗场图像的质量，同时通过调整相机参数来获取暗场图像的方式减少了操作量，有效提高了暗场图像的获取效率。该平场校正方法对备用亮场图像中各个像素点的灰度值进行了均值滤波，滤除高频成分，从而减弱了白色参考物上的细粒、纹理不均匀、玻璃片有灰尘等特殊情况导致的备用亮场图像质量受损，有效提高了亮场图像的质量。本发明实施例通过提高暗场图像和亮场图像的质量提高了平场校正的校正精度，同时避免了人工操作来获取暗场图像，提高了暗场图像的获取效率。

技术领域

本发明实施例涉及图像处理技术领域，并且更具体地，涉及一种平场校正方法及装置、图像验证方法及装置。

背景技术

利用相机对目标物体进行成像时,理论上得到图像中所有的像素点的灰度值是相同的.然而,实际得到的图像中各像素点的值往往存在较大差异。造成这种差异的原因主要包括以下几个：(1)照射目标物体的光照不均匀；(2)相机镜片中心的响应度和相机镜片边缘的响应不一致(3)相机的成像部件中的各像素点响应不一致，即各像素点利用光转换成电荷的能力不同；(4)相机的固定模式噪声(Fixed Pattern Noise，PFN)。

平场校正是一种用来消除由上述原因造成的像素点灰度值差异的校正方法，该方法首先利用相机对暗场进行一次曝光，即获取一个暗场图像，得到每个像素点的偏移(Offset)。之后利用相机对均匀光照条件下的物体进行一次成像，得到一个亮场图像。拍摄时，相机前需要放置一白色参考物，该参考物要求是一个洁净均匀的白色平面，这样使得图像中所有像素点的灰度值都接近最大。最后用亮场图像中各个像素点的灰度值减去暗场图像中对应的像素点的灰度值，结合得到的灰度值的差值，利用相对标定的方法对相机所拍摄图像中各个像素点的灰度值进行校正。

目前，暗场图像的获取需要人工盖上镜头的盖子，使相机处于不感光的状态下进行拍摄。不仅效率低，并且极易出现由于人工配合不到位导致误操作，降低了暗场图像的质量。亮场图像在拍摄时需要一个白色参考物，实际拍摄中可能由于白色参照物上的细粒、纹理不均匀、灰尘等情况造成亮场图像质量受损。暗场图像质量的降低和亮场图像质量的降低都会造成平场校正精度的降低，从而影响对图像中各像素点灰度值的校正，影响了相机的拍摄质量。

综上，因此需要一种技术方案能够提高平场校正的校正精度，同时提高案场图像的获取效率。

发明内容

本发明实施例提供一种平场校正方法及装置，其通过提高暗场图像和亮场图像的质量来提高平场校正的校正精度，同时避免了由人工操作来获取暗场图像，提高了暗场图像的获取效率。

第一方面，提供了一种平场校正方法，所述方法包括如下步骤：

调整相机的曝光时间到最小，同时调整所述相机的增益到最小；利用调整后的所述相机采集目标物体的图像，得到暗场图像；

调整所述相机的曝光时间到正常拍摄状态时的曝光时间，同时调整所述相机的增益到正常拍摄状态时的增益；利用调整后的所述相机采集所述目标物体的图像，得到备用亮场图像；

对所述备用亮场图像中各个像素点的灰度值进行均值滤波，得到亮场图像；

利用关闭镜头盖的相机采集所述目标物体的图像，得到参考暗场图像；

根据所述暗场图像中各个像素点的灰度值以及所述参考暗场图像中对应的像素点的灰度值，判断所述暗场图像是否受外界光照影响大，若所述暗场图像受外界光照影响大，则利用所述参考暗场图像替换所述暗场图像；

结合所述暗场图像和所述亮场图像，利用平场校正算法校正所述相机拍摄图像中各个像素点的灰度值。

结合第一方面的第一种可能的实现方式，第二种可能的实现方式中，所述判断所述暗场图像是否受外界光照影响大，包括如下步骤：