[发明专利]存储器设备及其测试方法以及存储器模块及使用其的系统

权利要求书

1.一种存储器装置，其包括：

测试数据输出电路，其被配置成通过比较从低位数据存储区域输出的低位数据与从高位数据存储区域输出的高位数据来生成判定信号，并且基于测试控制信号输出所述低位数据和所述判定信号；

数据发送器，其被配置成当所述测试控制信号被停用时，通过根据所述判定信号反转或不反转所述低位数据来输出数据，并且当所述测试控制信号被启用时输出所述低位数据作为所述数据；以及

测试控制电路，其被配置成根据测试读取信号和地址信号生成所述测试控制信号。

2.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述测试数据输出电路基于所述测试读取信号生成所述判定信号并且存储所述低位数据，并且基于所述测试控制信号输出所存储的低位数据。

3.根据权利要求2所述的存储器装置，其中所述测试数据输出电路包括：

数据比较器，其被配置成基于所述测试读取信号通过比较所述低位数据与所述高位数据来生成所述判定信号；以及

数据锁存单元，其被配置成基于所述测试读取信号存储所述低位数据，并且基于所述测试控制信号输出所存储的低位数据。

4.根据权利要求1所述的存储器装置，其中当所述判定信号包括失效信息时，所述数据发送器通过反转所述低位数据来输出所述低位数据，并且当所述判定信号不包括失效信息时，所述数据发送器输出所述低位数据而无需反转所述低位数据。

5.根据权利要求4所述的存储器装置，其中所述数据发送器通过反转所述低位数据的一个或多个特定位来输出所述低位数据。

6.根据权利要求1所述的存储器装置，

其中所述测试控制电路确定所述地址信号是测试地址信号还是正常地址信号，以及

其中所述测试控制电路被配置成根据所述测试读取信号和所述测试地址信号生成所述测试控制信号。

7.根据权利要求6所述的存储器装置，其中所述测试控制电路存储所述测试地址信号，并且基于所述测试控制电路再次接收所述测试地址信号来启用所述测试控制信号。

8.根据权利要求1所述的存储器装置，其进一步包括数据复制器，所述数据复制器被配置成基于测试写入信号将数据存储到所述低位数据存储区域和所述高位数据存储区域两者中。

9.根据权利要求8所述的存储器装置，其进一步包括命令接收器，所述命令接收器被配置成通过接收命令信号来生成测试写入信号和所述测试读取信号。

10.一种系统，其包括：

存储器模块，其包括多个存储器装置；以及

主机，其被配置成通过与所述存储器模块通信来控制所述存储器模块，

其中所述多个存储器装置中的每一个包括：

测试数据输出电路，其被配置成通过比较从低位数据存储区域输出的低位数据与从高位数据存储区域输出的高位数据来生成判定信号，并且基于测试控制信号输出所述低位数据和所述判定信号；

数据发送器，其被配置成当所述测试控制信号被停用时，通过根据所述判定信号反转或不反转所述低位数据来输出数据，并且当所述测试控制信号被启用时输出所述低位数据作为所述数据；以及

测试控制电路，其被配置成根据测试读取信号和地址信号生成所述测试控制信号。

11.根据权利要求10所述的系统，其中所述测试数据输出电路基于所述测试读取信号生成所述判定信号并且存储所述低位数据，并且基于所述测试控制信号输出所存储的低位数据。

12.根据权利要求11所述的系统，其中所述测试数据输出电路包括：

数据比较器，其被配置成基于所述测试读取信号通过比较所述低位数据与所述高位数据来生成所述判定信号；以及

数据锁存单元，其被配置成基于所述测试读取信号存储所述低位数据，并且基于所述测试控制信号输出所存储的低位数据。