[发明专利]存储器设备及其测试方法以及存储器模块及使用其的系统

说明书

本发明可提供一种存储器装置。存储器装置可包括测试数据输出电路，其被配置成比较从低位数据存储区域输出的低位数据与从高位数据存储区域输出的高位数据并作出判定。存储器装置可包括数据发送器，其被配置成通过根据判定反转或不反转低位数据来输出低位数据。存储器装置可包括测试控制电路，其被配置成根据测试读取信号和地址信号生成测试控制信号。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年1月31日向韩国知识产权局提交的申请号为10-2017-0013627的韩国申请的优选权，其全部内容通过引用并入本文，如同充分阐述。

技术领域

各个实施例可总体涉及一种半导体技术，且更特别地，涉及一种存储器设备、存储器模块以及使用该存储器模块的系统。

背景技术

电子装置包括许多电子元件。计算机系统包括许多电子元件，电子元件包括半导体设备。作为代表性电子装置的计算机系统包括用作主机的处理器和用作数据存储装置的存储器。特别地，多个存储器可形成在模块中，可安装在存储器系统中，并且可用作临时存储装置。代表性模块是双列直插式存储器模块(DIMM)。通常，DIMM包括多个DRAM，并且通过多个DRAM与处理器进行数据通信。由于DIMM包括多个存储器装置，因此其可能花费大量时间来测试DIMM。

发明内容

在实施例中，可提供一种存储器装置。存储器装置可包括：测试数据输出电路，其被配置成通过比较从低位数据存储区域输出的低位数据与从高位数据存储区域输出的高位数据来生成判定信号，并且可基于测试控制信号输出低位数据和判定信号。存储器装置可包括：数据发送器，其被配置成通过根据判定信号反转(invert)或不反转低位数据来输出低位数据。存储器装置可包括：测试控制电路，其被配置成根据测试读取信号和地址信号生成测试控制信号。

在实施例中，可提供一种系统。该系统可包括存储器模块，该存储器模块包括多个存储器装置。该系统可包括被配置成通过与存储器模块通信来控制存储器模块的主机。多个存储器装置中的每一个可包括：测试数据输出电路，其被配置成通过比较从低位数据存储区域输出的低位数据与从高位数据存储区域输出的高位数据来生成判定信号，并且基于测试控制信号输出低位数据和判定信号。多个存储器装置中的每一个可包括：数据发送器，其被配置成通过根据判定信号反转或不反转低位数据来输出低位数据。多个存储器装置中的每一个可包括：测试控制电路，其被配置成根据测试读取信号和地址信号生成测试控制信号。

在实施例中，可提供一种存储器装置的测试方法。该方法可包括通过比较通过提供测试地址从低位数据存储区域输出的低位数据与从高位数据存储区域输出的高位数据来生成判定信号，并存储低位数据。该方法可包括当低位数据与高位数据不同时反转低位数据；再次提供测试地址，并输出存储的低位数据。该方法可包括基于低位数据是否为失效数据确定是低位数据存储区域中发生失效还是高位数据存储区域中发生失效。

附图说明

图1是说明根据实施例的系统的示例的表示的简图。

图2是说明根据实施例的存储器装置的示例的表示的简图。

图3A和图3B是说明根据实施例的存储器装置和系统的操作的示例的表示的流程图。

图4是说明根据实施例的系统的示例的表示的简图。

图5是说明根据实施例的系统的示例的表示的简图。

具体实施方式

在下文中，将参照附图并通过实施例的示例来描述根据各种实施例的半导体设备。