[发明专利]感测装置

说明书

本发明提供一种感测装置，包括：基板、至少一晶体管、至少一感测元件及闪烁层，晶体管设置于基板上，感测元件设置于晶体管上并电性连接晶体管。感测元件包括：第一电极层、半导体层及第二电极层，半导体层设置于第一电极层上，第二电极层设置于半导体层上。闪烁层设置于基板的一侧，其中闪烁层的至少一角落区域包括弧形结构或斜边结构。

技术领域

本发明是有关于感测装置，且特别是有关于一种闪烁层具有弧形结构或斜边结构的感测装置。

背景技术

X光感测装置由于无损检测的特性在许多领域得到广泛的应用。X光感测装置通常包括X光感测面板及与其电性连接的感测驱动电路。X光感测面板将光信号转换成电信号，并将电信号传递至感测驱动电路，从而获得相应的图像信息。

然而，由于感测装置轻薄及窄边框的需求日益增加，在此趋势之下，感测装置中的闪烁层容易因碰撞而产生缺陷，造成感测装置的检测效果及显示品质不佳。

发明内容

本发明提供一种感测装置，包括：基板、至少一晶体管、至少一感测元件及闪烁层，晶体管设置于基板上，感测元件设置于晶体管上并电性连接晶体管。感测元件包括：第一电极层、半导体层及第二电极层，半导体层设置于第一电极层上，第二电极层设置于半导体层上。闪烁层设置于基板的一侧，其中闪烁层的至少一角落区域包括弧形结构或斜边结构。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：

图1A是本发明实施例的感测装置的上视示意图。

图1B是本发明另一实施例的感测装置的上视示意图。

图2是图1A或图1B中的感测单元的上视示意图。

图3是图2中沿A-A’线段的剖面示意图。

图4是本发明另一实施例的感测装置的上视示意图。

图5是图4中B部分的放大图。

图6是图5的感测装置弯折后的部分示意图。

图7A是本发明另一实施例的感测装置的上视示意图。

图7B是本发明另一实施例的感测装置的上视示意图。

图8A是本发明另一实施例的感测装置的上视示意图。

图8B是本发明另一实施例的感测装置的上视示意图。

图8C是本发明另一实施例的感测装置的上视示意图。

图9A是本发明实施例的感测装置的剖面示意图。

图9B是本发明另一实施例的感测装置的剖面示意图。

图9C是本发明另一实施例的感测装置的剖面示意图。

符号说明：

1 感测装置；

10 基板；

11 感测单元；

12 闪烁层；

13 栅极驱动元件；

131 集成电路；

132 软性电路板；

14 源极驱动元件；

15 反射层；

C 角落区域；