[发明专利]提高存储器寿命的方法

权利要求书

1.一种提高存储器寿命的方法，其特征在于，包括：

获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数；

获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数；所述ECC跳变点为存储器发生不可纠正的数据丢失时所对应的擦除次数和温度；

读取存储器中各个块的擦除次数；

依次判断各个块的擦除次数是否大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数；

若是，则使用备份块替换所述块；若否，则判断所述块的擦除次数是否大于或等于所述ECC跳变点对应的擦除次数；

若是，则转移所述块中的数据。

2.根据权利要求1所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，所述“获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数”包括：

对不同擦除次数的存储器样品在-20℃-75℃的温度下进行ECC值测试；

根据存储器样品的擦除次数统计ECC值；

依据统计结果得到ECC最大值对应的擦除次数。

3.根据权利要求1所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，所述“获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数”包括：

对不同擦除次数的存储器样品在120℃的温度下进行ECC值测试；

根据存储器样品的擦除次数统计ECC值；

依据统计结果得到ECC跳变点对应的擦除次数。

4.根据权利要求1所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，所述“获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数”包括：

将第一预设数量的不同擦除次数的存储器样品放置于-20℃-75℃的高低温箱中；

每隔第一预设周期从所述-20℃-75℃的高低温箱中选取第二预设数量的存储器样品的块进行ECC值读取，直至到达第一预设时间；所述第一预设数量大于第二预设数量；

根据块的擦除次数统计ECC值；

依据统计结果得到ECC最大值对应的擦除次数。

5.根据权利要求4所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，“获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数”包括：

将第三预设数量的不同擦除次数的存储器样品放置于120℃的高温箱中；

每隔第二预设周期从所述120℃的高温箱中选取第四预设数量的存储器样品的块进行ECC值读取，直至到达第二预设时间；所述第三预设数量大于第四预设数量；所述第一预设时间大于第二预设时间，第一预设周期大于第二预设周期；

根据块的擦除次数统计ECC值；

依据统计结果绘制ECC值的变化曲线；

依据所述绘制曲线得到ECC跳变点对应的擦除次数。

6.根据权利要求1所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，所述存储器样品包括两种以上的类型。

7.根据权利要求6所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，所述“获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数”之后，“读取存储器中各个块的擦除次数”之前，还包括：根据存储器样品的类型记录所述ECC最大值对应的擦除次数。

8.根据权利要求7所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，所述“获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数”之后，“读取存储器中各个块的擦除次数”之前，还包括：根据存储器样品的类型记录所述ECC跳变点对应的擦除次数。

9.根据权利要求8所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，所述“依次判断各个块的擦除次数是否大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数”具体为：

依次判断各个块的擦除次数是否大于或等于对应类型的存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数。

10.根据权利要求9所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，所述“判断所述块的擦除次数是否大于或等于所述ECC跳变点对应的擦除次数”具体为：

判断所述块的擦除次数是否大于或等于对应类型的存储器样品的所述ECC跳变点对应的擦除次数。