[发明专利]提高存储器寿命的方法

说明书

本发明提高一种提高存储器寿命的方法，包括：获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数；获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数；读取存储器中各个块的擦除次数；依次判断各个块的擦除次数是否大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数；若是，则使用备份块替换所述块；若否，则判断所述块的擦除次数是否大于或等于所述ECC跳变点对应的擦除次数；若是，则转移所述块中的数据。根据闪存颗粒在不同擦除次数下的分布值和跳变规律，对相应存储器固件进行调整，极大提高了存储器的数据可靠性和使用寿命。

技术领域

本发明涉及存储设备技术领域，尤其涉及一种提高存储器寿命的方法。

背景技术

存储器(Memory)是现代信息技术中用于保存信息的记忆设备，而符合eMMC协议的嵌入式存储产品，是目前使用最为广泛的存储器。

存储器由多个块构成，通过对块写入或擦除数据实现数据的存储或删除。存储器在使用过程中会经过不断的写入和擦除动作，随着存储器使用时间和使用次数的增加，会出现坏块或潜在的坏块，从而导致数据存储异常。

出现上述情况时，一般的做法是：将该存储器中的数据通过电脑转移至本地或其他存储器，然后该存储器作废。

但是上述处理方式造成了很大的资源浪费。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提高一种提高存储器寿命的方法，能够对存储器的坏块或潜在坏块进行调整，以提高存储器的寿命。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种提高存储器寿命的方法，包括：

获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数；

获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数；

读取存储器中各个块的擦除次数；

依次判断各个块的擦除次数是否大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数；

若是，则使用备份块替换所述块；若否，则判断所述块的擦除次数是否大于或等于所述ECC跳变点对应的擦除次数；

若是，则转移所述块中的数据。

本发明的有益效果在于：通过对存储器样品进行闪存颗粒(即块)的特性研究，得到不同擦除次数下的ECC值和跳变规律，再根据擦除次数与ECC之间的关系，对相应的块进行调整，极大地提高了存储器成品的数据可靠性和使用寿命，理论上可以是存储器成品的寿命达到实际使用物理闪存的极限寿命。

附图说明

图1为本发明实施例的提高存储器寿命的方法的流程示意图；

图2为本发明实施例一的提高存储器寿命的方法的流程示意图；

图3为本发明实施例一的提高存储器寿命的方法的高低温读写老化测试的流程示意图；

图4为本发明实施例一的提高存储器寿命的方法的高温静态放置测试的流程示意图。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

本发明最关键的构思在于：获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数，以及ECC跳变点对应的擦除次数，块的擦除次数是否大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数；对于一存储器中的块，若该存储块的擦除次数大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数，则直接替换掉所述块；若所述块的擦除次数大于或等于所述ECC跳变点对应的擦除次数，则转移该块存储的数据。

请参照图1，本发明提供：

一种提高存储器寿命的方法，包括：