[发明专利]双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置有效
申请号: | 201710943353.9 | 申请日: | 2017-10-11 |
公开(公告)号: | CN107884621B | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 张亦弛;何昭;黄见明;郭晓涛;张子龙;聂梅宁;杨瑷宁;王立峰 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01R23/16 | 分类号: | G01R23/16 |
代理公司: | 11448 北京中强智尚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 姜精斌<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 相位 参考 非线性 矢量 网络分析 测量方法 装置 | ||
1.一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法,其特征在于,包括:
获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点;
生成频谱成分覆盖所述被测子频段的第一相位参考信号;
测量所述第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差;
根据所述第一相位差,测量被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合;
改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段,完成全部被测子频段的测量,将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一相位差,测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合,具体包括:
通过所述第一相位差,对所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的相位值进行延迟修正;
测量延迟修正后的所述第一相位参考信号在所述被测频点上的相位值,与所述被测信号在所述被测频点上的相位值之差,得到所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一相位差,测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合,具体包括:
测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第三相位差的集合;
将所述第三相位差的集合中的第三相位差分别与所述第一相位差进行相加计算,得到所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点,具体包括:
获取被测频段划分的彼此不交叠的被测子频段;
确定所述被测子频段对应的一个交叠频点。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述确定所述被测子频段对应的一个交叠频点,具体包括:
若检测出多个被测信号在所述被测子频段内存在多个交叠频点,则选择其中一个交叠频点作为所述被测子频段对应的一个交叠频点。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述生成频谱成分覆盖所述被测子频段的第一相位参考信号,具体包括:
保持基带成分不变,通过改变载波频率调节所产生信号的频谱成分,生成频谱成分覆盖所述被测子频段的第一相位参考信号,使得其实际相位值为固有相位谱叠加一个随机相移。
7.根据权利要求1至6任一项所述的方法,其特征在于,所述第一相位参考信号是由脉冲调制信号、调频信号或多频正弦信号实现的,所述第二相位参考信号是由周期脉冲信号、或所述周期脉冲信号与其他周期信号组合实现的。
8.一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量装置,其特征在于,包括:
获取单元,用于获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点;
生成单元,用于生成频谱成分覆盖所述获取单元获取的被测子频段的第一相位参考信号;
测量单元,用于测量所述生成单元生成的第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差;
所述测量单元,还用于根据所述第一相位差,测量被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合;
合并单元,用于改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段,完成全部被测子频段的测量,将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。
9.一种存储设备,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法。
10.一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量装置,包括存储设备、处理器及存储在存储设备上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现权利要求1至7中任一项所述的双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710943353.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:负载功耗测试系统及方法、移动终端
- 下一篇:输电线路抗干扰直流电阻测试装置